请教: 关于石英晶体振荡器
时间:10-02
整理:3721RD
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请教高手 我想做一个石英晶体膜厚测试仪的振荡器,用6MHZ的石英晶振片(原理就是石英晶振的固有频率会随着其上面沉积的物资的厚度增加而线性的减少,如果晶振片的固有频率是6000000HZ,那么其上如果有10nm 的涂层,晶振的固有频率会变为5999940,大概就是这样); 那么测试厚度的时候,我需要做一个振荡器,让晶振片产生振荡,然后用频率测试仪器测试改石英固有频率的变化,根据频率来反推晶片上物质的厚度,请教各位高手,那么用什么样的振荡电路可以准确的测试出该石英晶片的频率变化呢? 如果给画一下简图更好,谢谢先
我觉得采用计数器的方式可能不错
:victory:
我在测试晶振频率的时候,采用的振荡电路 ,晶振采用并联还是串联电路呢?有人能说说不?
将频率转化成电压信号!
就我所知,晶振电路的频率在Fp和Fs之间,这对测厚有影响吗?厚度影响Fp还是Fs?能不能用DDS作扫频源测Fs
或Fp来实现?
我有你需要大的东西,联系方式xiazhijun27@126.com
回上面的问题,应该是要用并联的。
用F/V电路,精度很高。
可以参考下压控振荡电路
好,谢谢!
:hug: :hug:
学习中
请问有谁知道石英晶体振荡器的相位噪声谱吗?一般购买的时候有datasheet没有?
呵呵,我也想知道,实在不知道,请相告哦。
很多MCU的datasheet中都对外接晶振电路有描述,可以参考一下。比如microchip.
