求教电子元器件温度过限问题

我了解到电子元器件温度在一定范围内（工作温度极限），温度升高会加剧老化失效程度，而如果超过温度极限就会超出原来的失效机理，可能会立即失效或失效率急剧增加，请问此时失效率的变化趋势大概是什么样的呢?是指数的还是线性的或者其它?

自顶一下，求教……