USB的差分信号线加并联电容到地
2、经查是外部的USB信号的影响，所以在USB的差分信号线上加了并联到地的电容，问题得到解决，问题：是否可以加电容，如加能加多大，USB产品能加多长的延长线，我们测试时，发现用4米的延长线来测试，电脑会死机。
看了USB2.0的协议，最大的电容不能超过7pF，谢谢大家的讨论
高通的平台没有玩过，不过我们公司其他部门在开发，你有这方面的资料，我测试了眼图，发现没有差异，zhonghongyao16888@126.com
不知道你玩过高通的平台没，高通的高速USB有要求，如果你有眼图测试仪器，你会发现眼图会变形的；特别是TVS器件需要特别注意；
TO:zj2849
能帮忙解释一下吗?
高速USB（480M）不能超过3pF，全速（12M）不能超过60pF，你在顺便看看外面ESD器件的容值，有些TVS容值也很高哦~~~
目前加的是15pF，如采用2根USB线来测试，电脑就会死机，电脑死机是硬件问题还是Driver，有没有比较好的排除办法。
眼图利用2米，3米，4米测试都没有问题，是利用泰克DP5730的差分探头来测试，在通过转接板，还有在www.usb.org网站下载一个测试软件，通过检测到PID来发packet来进行测试的。
谢谢大家，如不加电容，无线性能就会下降，主要原因是PCB板太小了
楼上正解，如果加电容，随着电容的加大，眼图失真变大。所以，不要加太大，推荐的是小于10pf，但是，能小就尽量小点，还是要从layout上排除干扰。
需要加电容才可以解决问题, 应该是你的layout有问题吧.
一般, usb差分线属于高速线, 加电容会导致信号失真的.
看看！
高速USB（480M）不能超过3pF，全速（12M）不能超过60pF，你在顺便看看外面ESD器件的容值，有些TVS容值也很高哦~~~
感觉是不能超过5pf吧。
电容2 3个pf可以，再大直接对USB信号影响。信号失真
电容好像不能超过50PF
有条件的话改版吧，D+D-离天线远一点
在USB电源Vbas端加去耦电容试试
不过D+D-加电容居然不影响眼图，有点奇怪
(1)加电容，可能会解决EMI的问题，也可以防止干扰问题。但是不能解决数据完整性的问题。
（2）如果你测试一下眼图，就会知道，电容对上升沿，下降沿，数据抖动，占空比失真，都会有影响。你的USB2.0的测试就达不到规范。连接长一点的USB线，可能就无法识别。
（3)解决的办法是：D+ D-按照等长，等宽来走线，少过孔（高速USB2.0的话，尽量要没有过孔，因为过孔的电感效应对高速数据又很大的衰减),按照特性阻抗90欧姆来匹配，同时可以做个终端匹配（串联20-50欧姆）。差分走线包地处理，相隔合理的距离打过孔到地层。D+ D-走表层更好（好匹配）。
菜鸟 看得云里雾里
了解了。
学习了，以前只知道加tvs管抑制ESD时需要考虑它的电容值，但是不知道为什么?原来是怕引起usb信号失真