请问AFC校准失败的可能原因

信息：
ATE Tool Version:3.2.0
Part Number:  SG6110
Serial Number:  MTK00000001
Revision:  W04.06
Batch:  01
Bar Code:  0907010907010343
Error Code:  301
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  Enter into META Mode OK
IP2 Calibration time=0.000000
AFC Calibration OK
Slope=2.797000
Use Default Value=4726
Crystal AFC Pre check fail
请问可能是什么原因，谢谢！

换一个版本的试一下

CHANGE ATE TOOLS S/W VERSION  FROM 3.2.0 TO 3.4.1！
TRY AGAIN

恩，这个crystal AFC我们这也测试不过，但是你可以换过一个版本的，因为这可能不是一个普遍的项目，用WILL‘TEK的时候，测试会显示tester not yet support

射频头顶针与射频开关接触不好 或者 给手机供电电源与射频线靠得太近以致产生干扰 或者射频开关极性帖反  均会出现出现AFC校准失败现象

关于你说的这个问题，请检查以下几个方面：
1、顶针与RF头是否接触良好，是否因没有接触好而导致损耗大了。
2、RF线是否损耗大，转换头是否不良。
3、主板是不良，如漏电、发射电流大，通话电流大等。
4、基带部分是否受到RF部分的严重干扰，可以为基带部分加个屏蔽盖试一下。
如果是普遍存在的问题，请检查仪器、校准软件可能存在的问题。

然后还有
1.线损太大，而你又没补偿。
2。crystal损坏，需要换晶体了。

CDAC的初始值设置的不对，频偏太大，导致AFC算法不收敛，不能跟8960或者CMU200同步。尝试修改CDAC值。

也可以更换一个铜轴开关,或者加焊一下天线开关

你的手机用了crystal了吗?是不是6226的芯片?

后来怎么样了怎么没结果呢.AFC,与晶振,和射频头没接触好有很大关系.

CRYSTAL_DAC1=3800
CRYSTAL_DAC2=4200

看看，路过