关于校准测试的问题

看测试软件设计了，有些情况下是可能的但应该主要是fail时需要多次调整项目指标，多次调整后仍达不到目标才fail，时间长；但pass时几次调整后就达到目标，调整次数少，所以时间短

校准多次，有过有不过，测试系统有噪声。如果第一次不过，以后OK，校准软件菜手。时间长短，与fail处理有关。

需要优化校准软件，可能是在算法上还有缺陷，造成处理上的多次计算

若是工厂大批量生产出现这个问题很正常,所谓直通率问题,有误测很正常,可以改进一下算法,如把上次的值保存下来并与以前所有的值平均,然后写入这次测试的手机作为默认值,增加校准中的循环次数等等！

为了降低误测率,在校准不过的时候会重复多次测量,这样一来就会增加测试的时间

最好写清楚一点,哪家方案,哪项不过?

[此贴子已经被cuijw于2006-6-30 8:21:18编辑过]

我只是想知道一般的测试程序第二次校准之前是不是把原来的数据清除干净.
还有个问题,我们FT测试的手机有些AVERAGE POWER不过,经分析是校准数据未写进,是不是BT校准后不检查数据是否写成功.

这个要看你们程序是怎么写的,我们一般射频工程师会给测试一个默认的RF TABLE,每次校准之前都先把默认的RF TABLE写入手机！校准数据没写进去?然后BT还PASS了?这在我们这儿是不可能的,因为APC校准完以后会对每个PCL的功率进行测试！

我们这里的确出现过,不过数量不多.测试FT出现AVERAGE POWER,经DEBUG分析DAC值是默认的,所以我认为是没写进去.很遗憾这种情况没再现.当时没仔细考虑,可能BT的LOSS不准,要不然也不会流到后线.但是校准数据没写进去是肯定的

那很有可能是BT数据只写到MEMORY中,而没写到FLASH中,重新上电,数据丢失,你们是什么方案啊?

这种测试pass的板子，其某一项或几项是工作在临界状态的，并不稳定。Fail的主板会反复调整参数导致时间延长。在我所接触的测试程序中，一般测试pass后，校准的参数才会写入Flash。中途fail,主板原来的参数不改变。

优化算法，校准-〉写flash-〉RFcheck。

优化算法,同时不排除板子本身问题

一楼的兄弟，你这个问题的原因是机器的RF参数处于临界状态，在外界干扰不同时的情况下，有时fail，有时会pass，但这样的机器如果不是频率项就问题不大，如果是频率项即使偶然能pass也不是好板,将来打电话时会出现信号跳变不稳定.
关于为什么fail时用的时间长,是因为软件在一次测不过时会重复测,所以时间长了.