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分析一下RTL8210的晶振容易坏问题

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
这个25M晶振容易坏,不过都是时间长后的坏,替换过供应商了,设计上有什么改善的吗,用的时间长短不一,刚生产的时候当然是好的,都是客户反馈的一些问题。大家讨论下?


晶体很难坏的,你确认是晶体坏了?
以前倒是碰到过,晶体的两个脚和晶体外壳微短路的,由于孔大了,过波峰焊的时候工艺没有控制好,导致微短路(用万用表测量,有时候短,有时候不短)。
后来改了PCB板,我把孔的TOP层焊盘去掉了。后面再生产就没有出现这个问题了。

你的晶体是不是over drive了?一般晶体的额定功率很小的。

为了防止容易短路,焊盘间距加大了点的,剪短晶振引脚再焊接,看都看得出来,短路的可能性很小,测量也没有短路过

这是用在百兆网口上面的,IC是RTL8210,

查看晶振规格书,看看电容的容值是否正常。

像3楼说的,过激励是有可能的。

负载电容、晶体负阻 都通过了?

负载电容你是不是根据晶振的规格书来设计的?如果不是,请按晶振的规格要求做设计

你们应该先量下晶振的幅度是否符合spec

没有加阻尼电阻啊亲,很有可能是over driver了,看一下波形有木有失真。

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