不同功放参数对比测试条件设定的疑问
时间:10-02
整理:3721RD
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在固定的电源供电电压和负载下,根据Vout=Vin * Av,当在不同的Av下得到相同的Vout,测量对应的功放SNR、THD+N、频率响应、不平衡度、分离度等参数是不同的。
在对比测试两个不同的功放,为了尽量保持测试条件的一致性和对比的有效性。我们应该选取固定的Av还是固定的Vin作为参考呢?
希望大家给点建议,谢谢!
此外,从TI的芯片数据手册中看到如下测试数据。
这里的Av和Vin一般是什么样的条件呢,数据手册中没看到对应的说明。
在对比测试两个不同的功放,为了尽量保持测试条件的一致性和对比的有效性。我们应该选取固定的Av还是固定的Vin作为参考呢?
希望大家给点建议,谢谢!
此外,从TI的芯片数据手册中看到如下测试数据。
这里的Av和Vin一般是什么样的条件呢,数据手册中没看到对应的说明。

先解決第二個問題!
Operatinal Amplifier Noise Density Test Circuit
也是踢哀(TI)的技術文件講的!

你说的是Av=1的意思么?愚钝,望明说
您只是愚鈍,小弟是愚蠢!
運放的雜訊會隨增益(Gain)一起被放大,很多運放的特性都是設定在 Av = 1(Unity Gain)下的表現。
如果兩個放大器要做比較,觀念上來說應該先固定增益,然後改變輸入大小來觀察輸出差異。
多谢大神指教
有学习了一招
