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烧升压电路

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
如图所以,Q9、L2、D2、U7组成升压电路,给MOS驱动电路供电,有时会出现烧坏这几个元器件的 情况,请各位帮忙分析分析?小弟在这里不胜感激。



烧什么器件啊,功率不够吗?

烧Q9、L2、D2、U7,

烧Q9、L2、D2、U7,功率是够的。

Q9左边的电阻阻值太小啦~~~~~换成100K试试!

这个电阻不可能导致烧坏这些器件吧

电路我仔细看了,没啥大毛病!Q9、Q3只是加了一个可控开关,但你想过Q9的结电容没?

?没有,但这个只作为一个开关作用,没有开关速度这个要求,也不应该会导致烧坏电感、二极管和芯片。

提供的图和资料太少,从烧坏的元件来看:
建议从以下几个方面入手:
1、用示波器查看D2是否有过高的反压?或过大冲击电流?是否可以改SS26之类的二极管;
2、考虑一下L2是否合理有没有饱和的可能性?因为Q9和L2一定是过流才烧坏的;
3、升压反馈回路有无虚焊,C26使用要谨慎!升压输出电压是否有过压没有被限制?
4,个人感觉应该是D2先挂——U7过压击穿——Q9和L2烧坏(同时坏很奇怪,除非Q9短路)。

坏的顺序是你这样的,因为有些是只坏了IC和二极管,MOS和电感坏的少;关于虚焊这些,是可以排除的,因为这个是出货的产品,我们子啊出货之前会全检,C26这个会产生什么影响,请说一说。
您说的这几个方面,现在只有大冲击电流这方面没有确认,其他都验证过,没有任何问题。  

关于C26 电容,如果输出端有高频干扰尖峰,C26对于高频而言等效短路,这些干扰尖峰会加到反馈脚去,考验IC的耐压。
D2,的工作条件最好测试一下,有没有反压超出,也可以试着换二极管测试。

了解了,但是D2的电压肯定没有问题,不能确定的 就是电流的问题,因为这个只是极小部分的现象,我现在怀疑是尖峰电流某些时候可能达到二极管的极限值,而烧坏二极管,到最后引起烧坏这一路的IC。我现在苦恼的是没有测试电流的方法;如果换二极管测试,看还会不会出现问题,但是因为这个问题出现的概率极低,我基本上没有测试到这样的现象。 ,所以基本上也行不通。是否有尖峰电流的方法?

在Q9的栅极与源极之间并联一个10uF的电容看看

看不清图片   换成清楚的线路看看吧

串联小的取样电阻进去用示波器测试。

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