微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 硬件电路设计 > 硬件电路设计讨论 > 树脂焊锡丝的高温储存试验

树脂焊锡丝的高温储存试验

时间:10-02 整理:3721RD 点击:

树脂焊锡丝的高温储存试验

      树脂焊锡丝的高温储存主要是用来考查产品在储存条件下,温度与时间对树脂焊锡丝的可靠性的影响。对于树脂焊锡丝的焊点而言,经常会遇到高温的储存于使用环境,高温对焊点的影响主要体现促使焊点界面的金属间化合物的生长,金属间化合物长厚的同时,可能还会产生Kirkendall空洞,这时焊锡产品的焊点的强度就会下降。就是说高温应力可以导致焊点老化或早期失效。这一加速老化的过程可以用A类定律来描述。

      目前没有专门针对焊锡丝焊点的高温试验的试验标准,一般的焊点高温试验条件的选择可以参考JEDEC的标准JESD22-A103C-2004.高温应力的水平可以划分为A-G共7个等级,对于PCBA上的焊点而言,一般选择条件A或G,因为其他温度条件可能导致其他新的退化失效机理,如超过PCB基材的Tg,将导致PCB严重变形,这样会对焊点产生新的应力,必然导致新机理的产生。此外,部分焊锡条焊点也会产生类似问题。另外,由于高温应力单一及受周围的因素影响所限,试验的时间一般较长,都在1000h以上。试验过程最好有检测设备进行检测,以便及早发现失效样品。也可以通过切片后用扫描电子显微镜来检查Kirkendall空洞的生长状况或速度,以达到初步评估焊点可靠性的目的。


                                         


详情请咨询深圳市兴鸿泰锡业有限公司(400-0933-885)


  PCb库、原理图库 集聚地   www点ic-lib点com  20W现有数据  供人下载        手上有做过的资源可以上传到网站卖   只要网站上没有的你就可以上传   上传一次永久获得收益   只要有人下载  你就可以得到钱啦   

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top