天线近场测量的综述

为四个方面：
· 理论计算式及数值计算所产生的误差；
· 测试仪表及设备产生的误差；
· 环境产生的误差；
·探头天线所产生的误差，

对于平面扫描的情况，这些误差对天线参数影响的上界已由Newell等人给出了解析表达式^[7,12-14]，并由Jensen等人进行计算机模拟^[10,15]；

对于柱面和球面扫描，过些误差源对天线电参数的影响的误差上界尚未完成。表3给出了平面近场测量系统的典型的误差值及影响的电参数。其中理论公式和计算引入的误差只要按表2准则进行选取取样间隔和间距，则这些误差可以忽略不计。

表3 平面近场测量的误差(平均值)

三、近场测量技术的现状

分布及性能指标

从70年代后期，近场测量技术已走向适用化，据不完全统计世界已有五十多家研究机构相继建立了近场测量系统，如表4所示，它们的功能和部分技术指标如表5所示。

表4 近场测量系统的分布

表5 近场测量系统的部分技术指标和功能

四、近场测量的局限性

频域近场测量四种取样方式的特点如表7所示，从这个表格可以看出，部分应用研究方向仍是未来研究继续探讨的方向。

表7 频域四种取样方式特点

近场测量的分类

根据近场测量的研究方向和应用方向，近场测量可大致归为下面三类，如表6所示。

表6 近场测量的分类

五、展望

回顾过去的前人所做的工作，可以看出未来研究工作应集中以下几个方向：

1、柱面、球面各项误差的分析．这方面虽有进展，但截止目前尚未见公开报导。

2、低或超低副瓣天线的实时检测口径诊断虽然有了可喜的进展^[21-24]，但距实用还相差较远。

3、目标散射特性的研究目前仅限于简单目标的特性实验研究^[17.20]，复杂目标的实验研究尚处于探索时期，近场散射测量的探头型式还须进一步的探讨。

4、目标成像的研究虽刚刚起步^[25,26]，但应用前景非常广阔。

5、测试环境引入的误差研究，虽然有了时域理论^[17]，但尚未推广使用，其原因是工程实施较困难，简单已行的工程实用研究仍是研究的主要课题之一。