JTAG接口的结构组成

JTAG调试接口的结构如图1所示。它由测试访问端口TAP（Test Access Port）控制器、旁路（bypass）寄存器、指令寄存器和数据寄存器，以及与JTAG接口兼容的ARM架构处理器组成；处理器的每个引脚都有一个移位寄存单元，称为边界扫描单元BSC（Boundary Scan Cell），它将JTAG电路与处理器核逻辑电路联系起来，同时，隔离了处理器核逻辑电路与芯片引脚；所有的边界扫描单元构成了边界扫描寄存器BSR，该寄存器电路仅在进行JTAG测试有效，在处理器核正常工作时无效。

　　图1 JTAG调试接口示意图

　　（1）TAP（测试访问端口）控制器

　　TAP控制器对嵌入在ARM处理器核内部的测试功能电路的访问控制，是一个同步状态机，通过测试模式选择TMS和时钟信号TCK来控制其状态机。通过测试模式选择TMS和时钟信号TCK ＊控制其状态转移，实现IEEE1149.1标准所确定的测试逻辑电路的工作时序。

　　（2）指令寄存器

　　指令寄存器是串行移位寄存器，通过它可以串行输入执行各种操作的指令。

　　（3）数据寄存器组

　　数据寄存器组是一组串行移位寄存器。操作指令被串行装入由当前指令所选择的数据寄存器，随着操作的进行，测试结果被串行移出。其中：

　　·器件ID寄存器：读出在芯片内固化的D号。

　　·旁路寄存器：1位移位寄存器，用一个时钟的延迟把TDI连接至TDO，使测试者在同一电路板测试循环内访问其他器件。

　　·边界扫描寄存器（扫描链）：截取ARM处理器核与芯片引脚之间的所有信号，组成专用的寄存器位。