基于LabVIEW的继电器测试系统设计
增加了继电器触点状态(常开、常闭)指示灯,和一组继电器触点接线柱,包括常开、常闭、中间刀、线圈+、线圈-,对于没有专有插座的继电器,都可通过这些接线柱与继电器连接,完成测试,同时这些接线柱也作校验用。
3.1.5 霍尔传感器
如果被测试产品的线圈消耗电流在50毫安以下,则程控电源的电流范围过大,小电流信号没办法准确测量,故而采用霍尔电流传感器作为小电流的测量。本系统采用了输入电流范围0-200mA.输出为0-5v的霍尔电流传感嚣。
霍尔电流传感器的工作原理为:当原边导线经过电流传感器时,原边电流Ip一会产生磁力绒,原边磁力线集中在磁芯气隙周围,内置在磁芯气隙中的霍尔电片可产生和原边磁力线成正比的,大小仅为几毫伏的感应电压,通过后续电子电路可把这个微小的信号转变成副边电流Is,并存在以下关系式:Is*Ns=Ip*Np.其中,Np-原边线圈匝数:Ns-副边线圈匝数,一般取Np=1.电流传感器的输出信号是副边电流Is,输出电流经过测量电阻Rm,则可以得到一个与原边电流成正比的大小为几伏的电压输出信号与其它检测电流元件相比,霍尔电流传感器具有非接触、长寿命、高精度、体积小、重量轻、线性度好、响应快等特点。
测试系统原理框图如图1所示。
3.2 电路设计
图2所示为继电器综合测试系统的电路原理图。
如图2所示:被测继电器的中间刀接入PCI-1716板卡的数字地端,常开触点(CK)、常闭触点(CB)接入板卡的数字输入端。只有一组触点的继电器可以用此方法直接测试,但大多数继电器的触点一般有两组或两组以上,为避免把某组触点有问题的继电器判断为合格品,本测试系统采用了图3所示电路连接方法。
该电路为两组触点的继电器的连接电路。
将继电器两组触点的中间刀串联,而将其中一组的常闭触点与另外一组的常开触点相连作为中间刀,该中间刀接入研华板卡的DGND端。剩下剩下的常闭、常开触点与研华板卡的数字输入端和发光二极管相连,作为判断继电器触点的状态依据和指示。当电源给线圈供电并达到继电器接通状态时,常开触点与中间刀接通,被拉为低电平,而常闭触点与中间刀断开,电位升高(研华板卡的数字输入端悬空时为高电平)。如果其中一组触点损坏不能转换,则继电器的中问刀与常开常闭触点均断开,继电器判断未接通,这样继电器的两组触点全部被检测到。两组以上触点的继电器原理相同,可以把继电器的两组触点连接电路当成其中的组触点与接下来的组触点组成同样只有“两组触点”的继电器,以此类推,直到最后一组触点。测试时,只要其中一组触点损坏,继电器的状态都不会转换,即可判断继电器不合格。该方法经过实践检验,大大降低了继电器测试误判率。
程控电压源的接线端口除电压输出外,其余均集成于DB9接口,包括电压调节、电压回馈信号、电流回馈信号、输出开关、电流TTL等端口。测试系统将程控电压源的电压输出端与继电器的线圈相连,将电压信号调节端与研华PCI-1716板卡模拟输出和模拟地相连;电压回馈端送于PCI-1716的模拟输入通道,输出开关端与PCl-1716的数字输出通道相连。系统通过控制研华PC-1716板卡输出一电压值控制程控电压源输出电压。由程控电源的电压回馈端读取继电器接通或断开时的电压,通过对数字端口的控制,实现对程控电压源输出的控制。
将继电器线圈的正端按照霍尔传感器标示的电流方向穿过,将霍尔传感器的输出端“M”直接接PCI-1716板卡的模拟输入端,测试时由此端将继电器的消耗电流读出。
延时继电器的测量使用PCI-1716自带的定时/计数器82C53进行,使计数器0工作在方波速率发生器方式,将计数器0的输出端接入PCI-1716的数字输入端,用软件读取该方波发生的个数再加上计数器0的读数来测量时间。
4.继电器综台测试系统的软件设计
测试程序的设计根据研华板卡提供的LabVIEW驱动函数,先将常用函数打包成程序需要的子vi.编程时便于调用,不仅简化程序序,而且节省了编程时间。常用驱动函数有DeviceOpen.vi(打开由设备号指定的设备);DeviceClose.vi(关闭设备):DioWritePortByte.vi(向指定的数字端口写数据);DIOReadPortByte.Vi(从指定教字端口读取数据)等。打包后的常用文件有读取触点状态。vi,电源开关。vi,输入电压。vi等。
程序流程图如图4所示:
测试过程中,电压电流测量结果均采用多次采集取平均值的方法,保证了测量结果的准确性,同时在测试方法上,适当增加延时,消除抖动因素,保证测量的可靠性。
5.结论
基于LabVIEW的继电器测试系统的设计方案,己经过多台设备的验证,因其系统界面友
- 基于虚拟仪器的特性测试参数数据库的设计(06-24)
- 基于LabVIEW的USB实时数据采集处理系统的实现(03-26)
- 基于LabVIEW的DSP设计(04-10)
- 图形化系统设计:缩短开发时间的嵌入式设计(11-22)
- 基于DSP+LabVIEW的特高压验电器设计方案(02-18)
- 基于LabVIEW的32位处理器嵌入式系统的开发(05-13)