改进电路设计规程提高可测试性的研究

当然，在可制造性和可测试性之间应明确区别，因为这是完全不同的概念，从而构成不同的前提。

　　4、良好的可测试性的机械接触条件

　　如果不考虑机械方面的基本规则，即使在电气方面具有非常良好的可测试性的电路，也可能难以测试。许多因素会限制电气的可测试性。如果测试点不够或太小，探针床适配器就难以接触到电路的每个节点。如果测试点位置误差和尺寸误差太大，就会产生测试重复性不好的问题。在使用探针床配器时，应留意一系列有关套牢孔与测试点的大小和定位的建议。

5、最佳可测试性的电气前提条件

　　电气前提条件对良好的可测试性，和机械接触条件一样重要，两者缺一不可。一个门电路不能进行测试，原因可能是无法通过测试点接触到启动输入端，也可能是启动输入端处在封装壳内，外部无法接触，在原则上这两情况同样都是不好的，都使测试无法进行。在设计电路时应该注意，凡是要用在线测试法检测的元件，都应该具备某种机理，使各个元件能够在电气上绝缘起来。这种机理可以借助于禁止输入端来实现，它可以将元件的输出端控制在静态的高欧姆状态。

　　虽然几乎所有的测试系统都能够逆驱动（Backdriving）方式将某一节点的状态带到任意状态，但是所涉及的节点最好还是要备有禁止输入端，首先将此节点带到高欧姆状态，然后再“平缓地”加上相应的电平。

　　同样，节拍发生器总是通过启动引线，门电路或插接电桥从振荡器后面直接断开。启动输入端决不可直接与电路相连，而是通过100欧姆的电阻与电路连接。每个元件应有自己的启动，复位或控制引线脚。必须避免许多元件的启动输入端共用一个电阻与电路相连。这条规则对于ASIC元件也适用，这些元件也应有一个引线脚，通过它，可将输出端带到高欧姆状态。如果元件在接通工作电压时可实行复位，这对于由测试器来引发复位也是非常有帮助的。在这种情况下，元件在测试前就可以简单地置于规定的状态。

　　不用的元件引线脚同样也应该是可接触的，因为在这些地方未发现的短路也可能造成元件故障。此外，不用的门电路往往在以后会被利用于设计改进，它们可能会改接到电路中来。所以同样重要的是，它们从一开始就应经过测试，以保证其工件可靠。

　　6、改进可测试性

　　使用探针床适配器时，改进可测试性的建议

　　套牢孔

　　呈对角线配置
　　定位精度为±0.05mm （±2mil）
　　直径精度为±0.076/-0mm （+3/-0mil）
　　相对于测试点的定位精度为±0.05mm （±2mil）
　　离开元件边缘距离至少为3mm
　　不可穿通接触
　　测试点

尽可能为正方形
测试点直径至少为0.88mm （35mil）
测试点大小精度为±0.076mm （±3mil）
测试点之间间隔精度为±0.076mm （±3mil）
测试点间隔尽可能为2.5mm
镀锡，端面可直接焊接
距离元件边缘至少为3mm
所有测试点应可能处于插件板的背面
测试点应均匀布在插件板上
每个节点至少有一个测试点（100％通道）
备用或不用的门电路都有测试点
供电电源的多外测试点分布在不同位置
　　元件标志

标志文字同一方向
型号、版本、系列号及条形码明确标识
元件名称要清晰可见，且尽可能直接标在元件近旁
　　7、关于快闪存储器和其它可编程元件

　　快闪存储器的编程时间有时会很长（对于大的存储器或存储器组可达1分钟）。因此，此时不容许有其它元件的逆驱动，否则快闪存储器可能会受到损害。为了避免这种情况，必须将所有与地址总线的控制线相连的元件置于高欧姆状态。同样，数据总线也必须能够被置于隔绝状态，以确保快闪存储器为空载，并可进行下步编程。

　　系统内可编程元件（ISP）有一些要求，如Altera，XilinX和Lattuce等公司的产品，还有其它一些特殊要求。除了可测试性的机械和电气前提条件应得到保证外，还要保证具有编程和确证数据的可能性。对于Altera和Xilinx元件，使用了连串矢量格式（Serial Vector Format SVF），这种格式近期几乎已发展成为工业标准。许多测试系统可以对这类元件编程，并将连串矢量格式（SVF）内的输入数据用于测试信号发生器。通过边界扫描键（Boundary-Scan-Kette JTAG）对这些元件编程，也将连串数据格式编程。在汇集编程数据时，重要的是应考虑到电路中全部的元件链，不应将数据仅仅还原给要编程的元件。

　　编程时，自动测试信号发生器考虑到整个的元件链，并将其它元件接入旁路模型中。相反，Lattice公司要求用JEDEC格式的数据，并通过通常的输入端和输出端并行编程。编程后，数据还要用于检查元件功能。开发部门提供的数据应尽可能地便于测试系统直接应用，或者通过简单转换便可应用。

8、对于边界扫描（JTAG）应注意