微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 测试测量 > 测试测量技术文库 > 三坐标测量仪介绍

三坐标测量仪介绍

时间:02-07 来源:互联网 点击:

双击边界点“1”,输入起始点坐标值X、Y、Z;双击边界方向点“D”,输入扫描方向点坐标值;双击边界点“2”,输入确定第一方向的扫描宽度;双击边界点“3”,输入确定第二方向的扫描宽度;点击“3”,然后按“添加”按钮,对话框给出第四个边界点;双击边界点“4”,输入终止点坐标值;选择扫描所需的步长(各点间的步距)和最大步长(1、2两点间的步长)值后,点击“创建”。

  (2)触测方式

  选定“面片扫描”方式,用坐标测量机草作盘在所需起始点位置触测第一点,该点坐标值将显示在“边界点”对话框的“#1”项内;然后触测第二点,该点代表扫描第一方向的终止点,其坐标值将显示在对话框的“D”项内;然后触测第三点,该点代表扫描面片宽度,其坐标值将显示在对话框的“#3”项内;点击“3”,选择“添加”,可在清单上添加第四点;触测终止点,将关闭对话框。最后定义扫描行距和步长两个方向数据;选择扫描触测类型及所需选项后,点击“创建”。

  (3)CAD曲面模型方式

  该扫描方式只适用于有CAD曲面模型的工件。首先选定“面片扫描”方式,左键点击CAD工作表面;加亮“边界点”对话框中的“1”,左键点击曲面上的扫描起始点;然后加亮“D”,点击曲面定义方向点;点击曲面定义扫描宽度(#2);点击曲面定义扫描上宽度(#3);点击“3”,选择“添加”,添加附加点“4”,加亮“4”,点击定义扫描终止点,关闭对话框。定义两个方向的步长及选择所需选项后,点击“创建”。

  4.截面扫描(Section Scan)

  截面扫描方式仅适用于有CAD曲面模型的工件,它允许对工件的某一截面进行扫描,扫描截面既可沿X、Y、Z轴方向,也可与坐标轴成一定角度。通过定义步长可进行多个截面扫描。可在对话框中设置截面扫描的边界点。按“剖切CAD”转换按钮,可在CAD曲面模型内寻找任何孔,并可采用与开线扫描类似方式定义其边界线,PC DMIS程序将使扫描路径自动避开CAD曲面模型中的孔。按用户定义表面剖切CAD的方法为:进入“边界点”选项;进入“CAD元素选择”框;选择表面;在不清除“CAD元素选择”框的情况下,选择“剖切CAD”选项。此时PC DMIS程序将切割所选表面寻找孔。若CAD曲面模型中无定义孔,就没有必要选“剖切CAD”选项,此时PC DMIS将按定义的起始、终止边界点进行扫描。对于有多个曲面的复杂CAD图形,可对不同曲面分组剖切,*#将剖切限制在局部CAD曲面模型上。

  5.边界扫描(Perimeter Scan)

  边界扫描方式仅适用于有CAD曲面模型的工件。该扫描方式采用CAD数学模型计算扫描路径,该路径与边界或外轮廓偏置一定距离(由用户选定)。创建边界扫描时,首先选定“边界扫描”选项;若为内边界扫描,则在对话框中选择“内边界扫描”;选择工作曲面时,启动“选择”复选框,每选一个曲面则加亮一个,选定所有期望曲面后,退出复选框;点击表面确定扫描起始点;在同一表面上点击确定扫描方向点;点击表面确定扫描终止点,若不给出终止点,则起始点即为终止点;在“扫描构造”编辑框内输入相应值(包括“增值”、“CAD公差”等);选择“计算边界”选项,计算扫描边界;确认偏差值正确后,按“产生测点”按钮,PC DMIS程序将自动计算执行扫描的理论值;点击“创建”。

  6.应用要点

  (1)应根据被测工件的具体特点及建模要求合理选用适当的扫描测量方式,以达到提高数据采集精度和测量效率的目的。

  (2)为便于测量草作和测头移动,应合理规划被测工件装夹位置;为保证造型精度,装夹工件时应尽量使测头能一次完成全部被测对象的扫描测量。

  (3)扫描测量点的选取应包括工件轮廓几何信息的关键点,在曲率变化较明显的部位应适当增加测量点。

三坐标测量仪 - 数据管理一、数据转换#e#三坐标测量仪 - 数据管理一、数据转换

  数据转换的任务和要求:

  (1)将测量数据格式转化为CAD软件可识别的IGES格式,合并后以产品名称或用户指定的名称分类保存。

  (2)不同产品、不同属性、不同定位、易于混淆的数据应存放在不同的文件中,并在IGES文件中分层分色。

  数据转换使用《三坐标测量数据处理系统》完成,草作方法见软件用户手册。

  二、重定位整合

  1 、应用背景

  在产品的测绘过程中,往往不能在同一坐标系将产品的几何数据一次测出。其原因一是产品尺寸超出测量机的行程,二是测量探头不能触及产品的反面,三是在工件拆下后发现数据缺失,需要补测。这时就需要在不同的定位状态(即不同的坐标系)下测量产品的各个部分,称为产品的重定位测量。而在造型时则应将这些不同坐标系下的重定位数据变换到同一坐标系中,这个过程称为重定位数据的整合。

对于复杂或较大的模型,测量过程中常需要多次

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top