成像光谱仪在大米砷污染领域的应用
时间:12-09
来源:互联网
点击:
大米砷污染是一个危害人体健康的国际性问题。大米砷污染可以通过高光谱成像光谱仪进行检测。高光谱成像光谱数据具有图谱合一的优势,可以点面结合综合光谱曲线进行目标研究。
Anthony Filippi and Burak Güneralp (Dept. of Geography, Texas AM University, College Station, TX), and Lee Tarpley (Texas AM AgriLife Research Center, Beaumont, TX)等人通过SOC710VP便携式可见/近红外高光谱成像光谱仪远程检测砷污染的大米。结果表明:美国SOC公司的SOC710VP便携式可见/近红外高光谱成像光谱仪是野外检测砷污染大米的有效装备。
SOC710VP便携式可见/近红外高光谱成像光谱仪,可以实时获得400-1000nm波长范围内的光谱影像,不需要沉重耗电的扫描云台,重量仅3公斤,可以安装在三脚架上进行测量,非常便于野外和室内的检测工作。
- 成像光谱仪光谱定标技术的背景及原理(01-04)
- 频宽、取样速率及奈奎斯特定理(09-14)
- 为什么要进行信号调理?(09-30)
- IEEE802.16-2004 WiMAX物理层操作和测量(09-16)
- 为任意波形发生器增加价值(10-27)
- 基于PCI 总线的高速数据采集系统(09-30)