逻辑信号测试仪的设计与实现

引言

在数字电路的调试和检修时，常常要对电路中某点的逻辑信号进行测试，采用万用表或示波器等仪器仪表很不方便，而采用逻辑信号测试仪通过几个发光二极管就可以指示被测信号的逻辑状态及脉冲信号的频率范围，使用简单方便，给数字电路实验和电路设计开发带来便利。本文采用中小规模集成电路设计并实现了一种逻辑信号测试仪，不仅能区分逻辑电平的状态和脉冲信号频率的数量级，而且适用于各种类型的数字电路逻辑信号的测试。如果将电路安装成逻辑测试笔，使用就更为方便。

设计与实现

功能设计

逻辑信号测试仪主要包括逻辑信号状态的区分和脉冲信号频率的区分两部分功能。其中逻辑信号状态的区分主要通过双电压比较器电路实现，而脉冲信号频率的区分可利用数字频率计的原理实现。由于逻辑信号测试仪的电源来自被测电路，为满足各种类型的数字电路逻辑信号的测试，故所用芯片必须是能单电源供电且电源范围较宽的模拟电路芯片和CMOS类的数字集成电路芯片。