微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 测试测量 > 测试测量技术文库 > 日置(HIOKI)?存储记录仪MR8875-30应用实例

日置(HIOKI)?存储记录仪MR8875-30应用实例

时间:10-22 来源:互联网 点击:

本期为大家介绍升级后的存储记录仪MR8875-30的应用实例。

MR8875-30可以长时间记录外加在设备上的电压、超电导材料的电压下降、接点的电压下降等微小电压波形。新升级的MR8875-30特别加强了FFT分析功能,对于同时输入的信号可实现4种现象的分析同时测量,并结合测量环境通过运算减少误差,此外更有丰富的窗函数,Running频谱等一系列新增功能。为广大用户更好的解决实际测量问题。

言归正传,此次实测案例的重点是记录设备的特性评估、超电导材料的评估、接点的电压下降(接点电阻测量)等μV等级的电压。而且还需要同时测量温度和其他电压。

简易接线图示如下:

如图所示,我们通过在存储记录仪MR8875-30 上安装应变单元MR8903,可测量并记录微小电压波形(测试线为非标配产品)可以使用市售电线(指标参数等详情可来电咨询)。连接线需自备。保护端子的鳄鱼线请和黑色端的鳄鱼夹线连接。

● 使用仪器

数据记录仪:MR8875-30

应变单元:MR8903(4ch)

电压·温度单元:MR8902(15ch)

(测量其他的电压、温度时,请增加选择MR8902)

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top