微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 测试测量 > 测试测量技术文库 > EN50383标准简介-场强的测量方法

EN50383标准简介-场强的测量方法

时间:12-23 来源:互联网 点击:
1介绍

场强的测试方法包括面的扫描和体积的扫描。通过这些方法能直接或者间接的知道电场或者磁场的场强。
2面扫描方法
如图面扫描方法的测试示意图:

其中:Rmes是被测物基准点到测试探头的距离
面扫描即扫描以Rmes为半径的球表面的场强分布情况,一般来说定义被测物旋转的角度为方位角φ,探头的旋转角度为仰角θ。通过被测物的旋转和探头的旋转来实现测试目的。
测试步骤:
1.确认天线探头,测试系统及设备正常运行,安置被测物在适当的位置。
2.系统中设定合适的输出功率及测试频率。
3.当被测物每旋转Δφ方位角,探头从θi到θmax(imin=1)测量得到数值。重复测量直到φi=φmax(imin=1)。
4.根据测量得到的数据得出被测物的指标。
此方法最终测量得到的数据为在一定距离被测物辐射出的场强,适合于进行天线OTA测试及无源天线的参数指标测试。

3 体积扫描
如图体积扫描方法的测试示意图:

其中:R是被测物到全向探头的距离
体积扫描通过近场的测试得到被测物的场强。使用的探头为全向探头。
测试步骤:
1.确认天线探头,测试系统及设备正常运行,安置被测物在适当的位置。
2.系统中设定合适的输出功率及测试频率。
3.对被测物进行3D扫描,并且在不同的角度分别选择电场探头和磁场探头进行测试,分别测量E场和H场的场强。
4.根据测量得到的数据得出被测物的指标。
此方法根据不同形状的产品测试的距离R不同,测试数据为全向的电场强和磁场强,适合进行SAR测试。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top