大容量存储器集成电路测试

存储器电路来使用。通过调整地址结构,还可继续细分为32/1618/412兆容量的存储器电路来使用。

1.4 CHIP SET初始化技术和多CPU技术

系统的测试控制终端的设计采用CHIP GROUP(芯片组合)技术,具有一个主CPU(上位机)和多个测试CPU(下位机),系统软件对控制终端进行初始化设计,根据存储器电路的测试特定,开发设计了新的BIOS系统程序,包括设计全局变量描述符GDT的结构、局部变量描述符IDT的结构、全局变量描述符表GDT-TABLE向量、代码段CODE-DES向量、数据段DATA-DES向量、存储选择MEMORY-SEL向量、测试段TEST-DES向量,定义全局变量描述符寄存器GDT-R、局部变量描述符寄存器IDT-R等。这样,对控制终端的BIOS进行重新设计,使终端直接对待测存储器进行测试。而测试的容量由软件控制,针对不同芯片源和不同容量,具有多种选择。测试时只需设定要测试的存储器的类别、容量、测试开始矢量及结束矢量,就可以使测试系统按要求对存储器进行自定测试。通过对CHIPSET的初始化,定义了各种内参数、变量和向量,令主CPU只执行对各个测试CPU的管理和测试结果的数据逻辑分析,以满足存储器电路测试的要求。

1.5 测试程序模块化技术

系统采用四种不同的测试程序模块对存储器电路进行测试,以不同的读写方式测试存储单元的准确性和可靠性。

(1)Page-WR-RD读功能模块,测试存储器电路读写的正确性。

(2)FAST-WR-RD功能模块,测试存储器电路连续写入固定数据的准确性。

(3)MODIFY-WR-RD模块,测试存储器电路在连续写变化的数据时的准确性。

(4)MOVE-WR-RD功能模块,测试存储器电路在快速写连续循环变化的数据的准确性。

存储器电路测试系统采用计算机作为控制终端,采用虚拟矢量技术、变址扫描技术,实时数据分析技术,CHIP SET技术和设计计算机CHIP SET的初始化配置,时序控制技术,开发测试存储器电路应用程序,并配备相应的机械手和探针台接口,实现大容量存储器电路的测试。

2 存储器电路测试程序

系统不同的功能模块,以不同的方式对存储器电路进行测试,实现对存存储单元的各种参数进行测试,综合不同测试方式和所有测试矢量的结果,对存储单元的准确性和可靠性进行分类、输出显示。存储器电路测试程序是测试系统的核心部分。

2.1 Page-WR-RD模块

FP-WR-RD模块就是测试存储器电路以PAGE(页)方式时的正确性。该方式在写读数据时均以“WORD”32bit/次的方式进行,每次写数据时不是将所有存储单元一次全部填充完毕,而是按照存储器电路的特性,将存储器电路共64M bytes(以8M×8为例)待测存储单元以64K bytes为单位将存储单元分为不同的区(400I-王个)。以64K bytes为单位写入存储单元后再读出比较正确性,若有错则调用记录错误子程序,若无错误则继续下一数据的写入。将待写数据以字符串形式处理,每次取用一个数据。

2.2 FAST-WRITE-READ模块

FAST-WRITE-READ模块就是测试存储器电路连续写入固定数据的准确性,它以32bit/次将16M bytes存储单元全部写同一数据,然后再读出全部数据以测试其准确性。此模块目的在于测试存储器电路在快速连续写入/读出的工作方式下各个存储单元的准确性。

2.3 MODIFY-WRITE-READ模块

MODIFY-WRITE-READ模块测试存储器电路在连续写变化数据时的准确性,将每次写数据的变量内容取反,则每连续两次写入的内容相反,在读数据时若检测出每两次内容并非相反则存储单元有错。此功能对检测其存储单元是否有相互干扰而产生不稳定的情况。

2.4 MOVE-WRITE-READ模块

MOVE-WRITE-READ模块测试存储器电路在快速写连续循环变化数据的准确性。每次写入的数据变量EAX的内容向左循环移一位,则相邻每次写入数据均不相同,进一步检查存储单元确稳定性。

2.5 结果显示输出模块

进行存储器电路测试的目的是将存储器电路按其错误存储单元的情况进行分类标识,标识的结果必须易于记录、区分、焊接和使用,以满足实际生产的需要,而经过上述模块测试的结果数据存放在EAX内,地址存放在ES：[DI]内,对存储器电路必须对其进行分类作出标识,控制机械手输送到相应的分配卡位。

2.6 显示界面功能模块

测试系统开机后在显示屏应出现测试界面,显示测试系统配置,正在处理的存储器电路规格类型,显示正在执行的运行模式,以便观察该存储器电路对于何种模式较为敏感,在处理时有针对性地加强该测试模式处理。显示测试运行LOOP数,观察正在测试的存储器电路在工作状态的性能,以便观察存储器电路工作长时间的稳定性。各大容量存储器电路生产商在存储技术上略有不同,在测试界面中,用软件技术解决在产品变换中的适应性问题。只要设置相关软件变量,即可适用各种不