常用的天线测量技术

在测量时，计算机控制测试转台转动，并自动采集各个对应角度的接收信号
的数据（包括幅度、相位），经数据处理，得到天线的各个特性参数（如方向图、
副瓣电平、零点位置、半功率波瓣宽度等）。

2.近场扫描测量技术

是用一个特性已知的探头，抽测天线近区某一表面上场的幅、相分布，通过严格的数学变换式可以确定天线的远场特性。根据测量时扫描面的不同，将近场扫描测量技术分为平面扫描近场测量技术，柱面或球面扫描近
场测量技术。
2.1. 平面扫描近场测量技术（平面近场测量）
被测天线不动，X-Y 扫描架带动测试探头，测量被测天线在近区平面内的电磁
场分布（包括幅度、相位），经平面近远场变换，得到天线远场的特性。
2.2. 柱面扫描近场测量技术（柱面近场测量）
被测天线转动，加上探头沿Y 向步进移动，测量被测天线近区柱面上的电磁
场分布（包括幅度、相位），经柱面近远场变换，得到天线的远场特性。
2.3. 球面扫描近场测量技术（球面近场测量）
测试时，测试探头不动，使被测天线沿俯仰轴和方位轴转动来测试被测天线
近区球面上的电磁场分布，经球面近远场变换，得到天线的远场特性。