数字万用表应用策略

弦波特性设计的，所以它不能直接用于测量锯齿波、三角波、矩形波等非正弦波电压，被测量即便是正弦波电压，如果其波形的失真度较大，仍将不能获得正确的测量结果。这对于脉冲电路、数字化电子系统和广播电视设备中的视频、音频电路，以及工控仪表装置中的非电量电测信号等测量对象来说，都必须引起高度的重视。如需准确测量各种非正弦波形的电压有效值，应选用真有效值数字万用表（如DT980型）进行测量。

2.9被测部分的孤立性规则

在测量电阻时，无论被测对象是复杂的系统还是单个的电子元器件，被测部分不得存在除数字万用表测试电流以外的任何电源所形成的电流成分，而且测量者的手指等身体的任何部位均不得接触两个表笔的触针及被测对象的导电部位，以免对被测部分构成分流作用或引入干扰成分，从而造成较大的测量误差。因此，在测量电阻前必须切断被测对象的工作电源或与电源有联系的电路，否则，不仅测量结果无法保证，还有可能损坏仪表或对人身安全构成威胁。即使是测量电压和电流参数，也有必要考虑被测部分的孤立性规则，因为弱小参量下测量结果的准确性是关键，而强势参量下人员和仪表的安全成为主题。

2.10 必须明确电阻挡的弱电流特性

数字万用表电阻挡的内阻很高，它所提供的测量电流固然非常微弱（如20kΩ挡：DT—830型为75μA；DT—840D型为60μA）。如果使用该电阻挡测量半导体器件各个电极之间的阻值，实际上测量电流在半导体器件内部的作用根本无法克服其PN结的死区电压，由此测出的阻值要比模拟式万用表测出的阻值高出许多，而且两者之间不存在线性比例关系，没有任何的可比性，所以构不成判别其好坏的可靠依据。因此不能用数字万用表的电阻挡来判别半导体器件的性能，应当改换到二极管测试挡进行判别，而且这是专为测量半导体器件而设的。

2.11 必须明确hFE测试挡的适用范围

数字万用表的hFE挡测量的是晶体三极管共发射极直流电流放大系数，由于能直接以数字形式显示出hFE值，对于鉴别和选用晶体三极管来说，实在是太方便了，但鲜为人知的是该挡仅适合于测量小功率晶体三极管的hFE ，而不适用于大、中功率晶体三极管的hFE的测量，其原因分析如下。

图2

以DT1000型数字万用表为例，图2是其 hFE 测试电路原理图。8芯插座专门为插接被测管子而设，每组E、B、C、E的四个插孔按照PNP、NPN分左右两个区域排列，两个E孔已在仪表的内部连通；R35为NPN型被测管子的基极偏置电阻；R36为PNP型被测管子的基极偏置电阻；被测管子的工作电源取自V+至COM之间的电位差，其典型值为E0 =3.2V；R34为被测管子的负载电阻，亦即 hFE 测量取样电阻；IC1的IN+和IN－与COM 等端子在此组成200mV 基本表，用以显示由R34转换而成的取样电压。从图2的基极偏置电路可求得被测管子的基极偏置电流，以PNP型硅管为例，并设被测管子的UBE=0.55V，则：

由此可见，被测管子的基极偏置电流如此之小，通常仅供测试小功率晶体管之用，而对于中功率和大功率管子而言，10μA的基极电流所引发的集电极电流相当微小，很可能落到管子的线性工作区（即放大区）与截止区的交界处附近，根本不在放大区的正常范围之内。所以，如果使用普通数字万用表的hFE挡测量大、中功率晶体三极管的hFE，将会产生很大的误差，可能造成hFE示值严重失实，进而对晶体三极管做出错误的判断。

2.12其他注意事项

（1）当被测部位的电压高于安全电压（通常情况下规定为36V，特别潮湿场合为12V）时，必须警惕触电事故的发生，应有可靠的安全措施。

（2）不准使用数字万用表测量对其本身正在供电的电池或稳压电源的电压或电流。

（3）不得将正在进行测量工作中的数字万用表的电池或稳压电源同时为其他装置供电。

（4）测量前应检查各量限、各插口（孔）所能承受的最大电压不得超过规定值。

（5）为节约仪表内部的电池，当测试间隔时间较长时，应及时关掉仪表的电源。

（6）如果长时期（冬天为数十日，夏天为数日）内不打算使用仪表，索性将电池取出，以防不测。

（7）使用中若发现屏幕显示出低电压符号时，说明应当更换新电池（更换前应首先关闭电源），以确保测量的准确度。

3结束语

随着科学技术的发展，数字万用表的品种和规格也越来越多，其电路结构和技术性能方面也是在不断的进步和创新，尤其是多用途仪表和高精度仪表，加之使用环境和被测对象以及使用者的素质也不尽相同，因此，除了掌握上述的各项要领之外，还要根据所用仪表的技术特点和使用要求，针对具体的测量对象、测量环境和测量要求而采取相应的技术策略，