异频全自动介质损耗测试仪频率与介损关系
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1.异频全自动介质损耗测试仪变频测量时:
干扰十分严重时,变频测量能得到准确可靠的结果。例如用55Hz测量时,测量系统只允许55Hz信号通过,50Hz干扰信号被有效抑制,原因在于测量系统很容易区别不同频率,由下述简单计算可以说明选频测量的效果:
两个频率相差1倍的正弦波叠加到一起,高频的是干扰,幅度为低频的10倍:
Y=1.234sin(x+5.678°)+12.34sin(2x+87.65°)
在x=0/90/180/270°得到4个测量值
Y0=12.4517,Y1= -11.1017,Y2=12.2075,Y3= -13.5576,
计算A=Y1-Y3=2.4559,B=Y0-Y2=0.2442,则:
φ=tg-1(B/A)=5.678°V=
这刚好是低频部分的相位和幅度,干扰被抑制。实际波形的测量点多达数万,计算量很大,结果反映了波形的整体特征.
2.异频全自动介质损耗测试仪频率和介损的关系:
介损有RC串联和并联两种理想模型:串联模型tgδ=2πfRC,并联模型tgδ=1/(2πfRC),tgδ分别随频率f成正比和反比。如图所示,f对完全正比和完全反比两种模型影响较大。但实际电容器是多种模型交织的混合模型,此时f的影响就小。
3.异频全自动介质损耗测试仪自动变频与50Hz等效
仪器采用自动变频在干扰频率50Hz两侧(45Hz和55Hz)各测一个点,然后推算50Hz频率下数据。除多个元件电路的低频谐振外,单个试品中的介质不可能在低频引起能量吸收峰,工频附近介损总是随频率单调变化的。因此这种测量方法不会带来明显误差。实际上,平均前的两个介损值已十分接近,即使不平均也完全有参考价值。目前,变频介损仪已成为介损测量的常规仪器,其优异的抗干扰能力和准确度已经得到认可。
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