微波EDA网,见证研发工程师的成长! 2025濠电姷鏁告慨鎾儉婢舵劕绾ч幖瀛樻尭娴滅偓淇婇妶鍕妽闁告瑥绻橀弻锝夊箣閿濆棭妫勭紒鐐劤濞硷繝寮婚悢鍛婄秶闁告挆鍛缂傚倷鑳舵刊顓㈠垂閸洖钃熼柕濞炬櫆閸嬪棝鏌涚仦鍓р槈妞ゅ骏鎷�04闂傚倸鍊搁崐鎼佸磹閹间礁纾瑰瀣捣閻棗銆掑锝呬壕濡ょ姷鍋為悧鐘汇€侀弴銏℃櫆闁芥ê顦純鏇㈡⒒娴h櫣甯涢柛鏃€娲熼獮鏍敃閵堝洣绗夊銈嗙墱閸嬬偤鎮¢妷鈺傜厽闁哄洨鍋涢埀顒€婀遍埀顒佺啲閹凤拷11闂傚倸鍊搁崐鎼佸磹閹间礁纾瑰瀣捣閻棗銆掑锝呬壕濡ょ姷鍋為悧鐘汇€侀弴銏℃櫇闁逞屽墰缁絽螖娴h櫣顔曢梺鐟扮摠閻熴儵鎮橀埡鍐<闁绘瑢鍋撻柛銊ョ埣瀵濡搁埡鍌氫簽闂佺ǹ鏈粙鎴︻敂閿燂拷 闂傚倸鍊搁崐鎼佸磹閹间礁纾瑰瀣捣閻棗銆掑锝呬壕濡ょ姷鍋為悧鐘汇€侀弴銏犖ч柛灞剧煯婢规洖鈹戦缁撶細闁告鍐f瀺鐎广儱娲犻崑鎾舵喆閸曨剛锛涢梺鍛婎殕婵炲﹪鎮伴鈧畷鍫曨敆婢跺娅屽┑鐘垫暩婵挳骞婃径鎰;闁规崘顕ч柨銈嗕繆閵堝嫯鍏岄柛娆忔濮婅櫣绱掑Ο鑽ゎ槬闂佺ǹ锕ゅ﹢閬嶅焵椤掍胶鍟查柟鍑ゆ嫹婵犵數濮烽弫鍛婃叏閻戣棄鏋侀柟闂寸绾剧粯绻涢幋娆忕仾闁稿鍊濋弻鏇熺箾瑜嶉崯顐︽倶婵犲洦鈷戦柟绋挎捣缁犳挻銇勯敂璇茬仯缂侇喖顭烽、娑㈡倷鐎电ǹ寮抽梻浣虹帛濞叉牠宕愰崷顓涘亾濮樼偓瀚�
首页 > 测试测量 > 测试测量技术文库 > 频谱分析仪的那些事儿--之跟踪源(TG)

频谱分析仪的那些事儿--之跟踪源(TG)

时间:12-29 来源:互联网 点击:

跟踪源也称为TG(Tracking Generator),是频谱分析仪的一种常见扩展功能。TG是一个信号源,它所产生的信号频率完全与频谱分析仪的调谐频率相一致,也就是当前频谱分析仪扫描到那个频率TG就发出那个频率的正弦波。扫描做主,TG做从,无需选择,自动关联。
TG的定位是利用频谱分析仪扫描的本振,当频谱分析仪设置为零扫宽的时候,本振处于固定频点的状态,改变此时频谱分析仪的中频中心频点,TG的输出将成为一个可调谐的模拟射频信号源。但是TG结构上比较简单,指标上不能与独立的射频信号源相比,首先TG的频率输出分辨率受到扫描精度的限制,其次TG的功率输出范围有限,功率输出分辨率同样有限,功率输出精度也有限。TG这个射频信号源是一个模拟单音源,且相噪指标和频谱分析仪相同。
当TG输出跟随扫描的时候,频谱分析仪变成了一台网络分析仪,可以测量置于频谱分析仪与跟踪源之间的双端口网络器件的频率响应,也就是S21。频率范围与频谱分析仪相同,功率范围是TG的功率输出范围,但是频谱分析仪是基于包络检波的功率检测,不能测量相位信息因此只是一台标量网络分析仪。对于同一个频点,也可以执行功率扫描,使TG的输出功率按照一定的步进递增,完成一个功率范围的扫描。

闂傚倸鍊搁崐鎼佸磹閹间礁纾瑰瀣捣閻棗銆掑锝呬壕濡ょ姷鍋涢ˇ鐢稿垂妤e啫绠涘ù锝呮贡缁嬩胶绱撻崒姘偓鐑芥倿閿曚焦鎳岄梻浣告啞閻熴儳鎹㈠鈧濠氭偄绾拌鲸鏅梺鎸庣箓濞诧絽效濡ゅ懏鍋℃繝濠傛噹椤eジ鎮介娑樻诞闁诡喗鐟︾换婵嬪炊閵娧冨妇濠电姷鏁搁崐顖炲焵椤掑嫬纾婚柟鍓х帛閻撴盯鎮楅敐搴′簽濠⒀冪仛閹便劍绻濋崨顕呬哗闂佸湱鎳撶€氱増淇婇幖浣肝ㄩ柨鏃€鍎崇紞鎺楁⒒閸屾瑨鍏岄柟铏崌瀹曠敻寮介鐐殿唵闂佽法鍣﹂幏锟�...

如果在频谱分析仪外部增加一个定向耦合器,将DTU输入端的反射耦合会射频输入端(RF in),则这台标量网络分析仪就具有了测量S11反射系数的能力。S11揭示了器件和Z0(特性阻抗,典型值为50Ω)传输线之间的失配度,因为不是所有入射到器件中的能量都可以被完全吸收,部分能量将被反射回信号源,比较入射和反射信号可确定能量的传输效率,用于评估天线等射频器件或模块的电压驻波比特性。

闂傚倸鍊搁崐鎼佸磹閹间礁纾瑰瀣捣閻棗銆掑锝呬壕濡ょ姷鍋涢ˇ鐢稿垂妤e啫绠涘ù锝呮贡缁嬩胶绱撻崒姘偓鐑芥倿閿曚焦鎳岄梻浣告啞閻熴儳鎹㈠鈧濠氭偄绾拌鲸鏅梺鎸庣箓濞诧絽效濡ゅ懏鍋℃繝濠傛噹椤eジ鎮介娑樻诞闁诡喗鐟︾换婵嬪炊閵娧冨妇濠电姷鏁搁崐顖炲焵椤掑嫬纾婚柟鍓х帛閻撴盯鎮楅敐搴′簽濠⒀冪仛閹便劍绻濋崨顕呬哗闂佸湱鎳撶€氱増淇婇幖浣肝ㄩ柨鏃€鍎崇紞鎺楁⒒閸屾瑨鍏岄柟铏崌瀹曠敻寮介鐐殿唵闂佽法鍣﹂幏锟�...

有的频谱分析仪将定向耦合器内置在TG输出端口内部,耦合端在内部反射回RF in。由于内置耦合器固定在仪器内部,使得其相频响应校准成为可能,从而具有测量矢量S11的能力,最典型的例子是测量电缆故障点,是根据测量反射波的相位得到较精确的发射和反射关系,从而得到器件的阻抗不连续点的特性。
在测量S21传递特性时通常将校准线损称为“归一化”:现将双端口待测仪器取下,直连两条端口的电缆和连接器,进行TG的“归一化”操作,则线缆的频响将存储在频谱分析仪内部,此时显示的响应将是一条理想的水平线,然后再将待测器件接入电缆之间,执行TG扫描,从而得到待测器件本身的幅频特性。若更换了电缆,需要重新进行“归一化”操作。
在测量S11反射特性时,外部的连接电缆及定向耦合器的插损及耦合度都会影响实际测到的反射功率的大小,且定向耦合器的耦合度和插损及线缆的插损,都随着频率变化而变化,通过校正所需频率的线损及定向耦合器的插损和耦合度,将校准参考平面从射频输入口移至DUT端口,就可以消除这些影响。由于涉及到定向耦合器,校准方法通常需要开路校准、短路校准、负载校准反射校准等。

闂傚倸鍊搁崐鎼佸磹閹间礁纾瑰瀣捣閻棗銆掑锝呬壕濡ょ姷鍋涢ˇ鐢稿垂妤e啫绠涘ù锝呮贡缁嬩胶绱撻崒姘偓鐑芥倿閿曚焦鎳岄梻浣告啞閻熴儳鎹㈠鈧濠氭偄绾拌鲸鏅梺鎸庣箓濞诧絽效濡ゅ懏鍋℃繝濠傛噹椤eジ鎮介娑樻诞闁诡喗鐟︾换婵嬪炊閵娧冨妇濠电姷鏁搁崐顖炲焵椤掑嫬纾婚柟鍓х帛閻撴盯鎮楅敐搴′簽濠⒀冪仛閹便劍绻濋崨顕呬哗闂佸湱鎳撶€氱増淇婇幖浣肝ㄩ柨鏃€鍎崇紞鎺楁⒒閸屾瑨鍏岄柟铏崌瀹曠敻寮介鐐殿唵闂佽法鍣﹂幏锟�...

灏勯涓撲笟鍩硅鏁欑▼鎺ㄨ崘

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top