NI 5665 与传统仪器对比演示 - 设置与细节

模式

  

420	-82	NA	-81
关闭平均	快速ACPR模式	60	-75	5	-75
	IBW 模式	100	-81	NA	-81

图4.此图展示了PXA 的快速模式。若在设置中使用SAW滤波，则可实现的最佳ACPR值大约为-75 dBc。



图5.使用IBW 模式和噪声校正时，你可以在上通道实现-82 dBc，这一数值与使用NI PXIe-5665达到的数值接近。



图6.正如视频中所示，NI 5665可以在开启平均和噪声校正的情况下实现-81 dBc的测量，同时其速度也要比Agilent PXA快14-15倍。

TOI测试

在此测试中，我们将生成中心频率相差1MHz的两个单频信号。如果两个信号源之间没有足够的间隔，信号源所产生的互调失真会掩盖被测接收机的失真。 每个信号源输出口的AtlanTec（ACC - 20010系列）隔离器、Mini -Circuits<ZFSC-2-10G+( 10 GHz) 和 ZFSC-2-11-s (1GHZ)>功率分配器被用于信号结合，确保信号源失真低于被测失真的接收器水平。上下TOI都会被计算在内（只有上部TOI在视频中显示）。计算的上下TOI的方法如下。

IP3 Lower = P1 + (P2- IMD lower)/2
IP3 Upper = P2 + (P1 - IMD Upper)/2

以下设置对于两个仪器都适用。

o 0 dB衰减
o 01 kHz RBW
o 无平均值



图7. NI PXIe-5665和Agilent PXA的三阶信号成分。NI PXIe-5665的三阶信号成分的绝对强度接近-95 dBm。

测量	Agilent PXA	NI 5665
上TOI ，0 dB 衰减	+20 dBm	+27 dBm
下TOI， 0 dB 衰减	+19 dBm	+26 dBm

如果使用更多的衰减，那么你可以获得更多的TOI测量结果。

列表模式测试

在列表模式测试中，生成了一个1GHz的信号，并使用Agilent PXA和NI PXIe-5665进行读取。随机选择2、 5、10 或14 GHz的谐波，因为两个仪器的测试结果以3.6GHz频点为界都会发生变化，而我们希望能正确地测量跳跃到更高次的谐波所需的时间。虽然这并不是一个标准的测试，但是它最好地展示了两个仪器在列表模式测试中的灵活性。

注意：对两个仪器均使用列表模式。

总时间由列表模式中的扫描时间+每个频率跳跃峰值搜索时间+数据返回至两台仪器的主机所需时间组成。

	Agilent PXA所需时间 (ms)	NI 5665所需时间(ms)
列表模式所需时间+峰值检测时间	700	400

图8.在NI PXIe-5665和Agilent PXA上使用列表模式。相比大多数列表模式测试，NI 5665 要快1.5-2倍。



图9. 远程使用Agilent PXA列表模式，在上述条件下需要700ms的时间。
注意：Agilent PXA针对某些谐波上进行了优化。NI 5665 则是在所有的列表模式测试中速度快1.7-2倍。

EVM测量

在EVM测试中，使用NI PXIe-5673矢量信号发生器生成一个LTE信号。两个仪器均使用如下设置：
•
o RBW = 30 kHz
o 10 dB 衰减
o 10 次平均
o 关闭自动峰值检测

	NI PXIe-5665	Agilent PXA
EVM 测量 (RMS)	.15%	.29%
所需时间 (ms)	390	1200

图 10. 使用Agilent PXA 和 NI PXIe-5665进行LTE EVM 测试。
使用可编程的FPGA进行在线处理



图 11. 将信号处理移至FPGA上进行可以节省时间。

NI FlexRIO非常灵活，可以作为一个协处理器。在这一演示的设置中，所有来自PXIe-5665的数据都是在FPGA上进行处理；而在之前的演示设置中，数据是在嵌入式处理器中进行处理。这一特性的应用非常广泛，例如硬件处理的算法、协议实现以及实时激励-响应等应用。
测试时间比较（包含设置时间）

前面所有的测试演示都只针对单次测量的时间。而在本项测试中，除了测量时间以外，还将考虑设置时间。这在包含多种测试标准的自动化测试（例如功率放大器测试）之中很有必要。



图 12. 若考虑设置时间，NI 5665的速度要快20倍。