R&S提供LTE基站闭环测试解决方案

罗德与施瓦茨(R&S)宣布全面提供长期演进(LTE)测试解决方案。包括向量信号产生器(SMU)系列的软件项目SMx/AMU-K69，并已提供LTE基站封闭环测试。

为确保LTE的高速的资料输送量，在基站的一致性测试规范(TS 36.141)中，要求发射机和接收机在衰落条件下，其功能特性须达一定水准以上。测试项目包括LTE混合式自动重送请求(HARQ)和时间调整，测试环境采纳封闭环测试。

罗德与施瓦茨的SMU200A向量信号产生器，能协助使用者完成这些测试。仪器须配有相对应的软件，产生符合标准的LTE讯号，包括通道编码的编辑和提供衰落和加性高斯白杂讯(AWGN)的通道条件。另外，SMU-K69进行LTE闭环基站测试时，向量信号产生器能够处理基站的回馈资料，与动态的即时LTE讯号。
 
该公司的解决方案提供了以下优点，例如其向量信号产生器遵循2009年6月发布的LTE标准版8.7.0规范；不须增购其他LTE测试仪器即可执行TS 36.141封闭环基站测试；且向量信号产生器能产生高纯度的讯号，同时保证提供可靠测试结果；还有仅需最少机架空间，而当产生双路径的LTE讯号及LTE模拟通道时，所需高度为四个单位高度的单一仪器。

此外，罗德与施瓦茨也提供SMJ100A和SMATE200A的SMx-K69软件，与AMU200A的AMU-K69软件，可用于LTE封闭环基站测试功能。

罗德与施瓦茨网址：www.rohde-schwarz.com