爱德万测试：让存储器及射频产品测试实现更高成本效益

2016年中国消耗的半导体芯片占全球的三分之一，预计到2025年这个数字会增加到50%以上，因此国家提出集成电路产业发展战略。随着国家的大力支持，国内半导体产业已经逐步从跟随转向自主研发，初步形成了从设计、晶圆加工、封测以及应用的全套产业链，未来会出现走在世界前列的半导体公司，甚至会设定产业标准，如5G、物联网。

随着物联网产品种类和数量的增加以及5G通信技术的快速发展，对应的产品测试需求也不断增加，为了帮助客户实现快速测试，爱德万测试推出两款系统测试新产品：T5800系列存储器测试方案和配合V93000测试平台的Wave Scale测试板卡，它们可以帮助客户实现更高的成本效益，目前在中高端市场做到了全面覆盖。

图1：爱德万测试(中国)管理有限公司VP夏克金博士

T5830： 让Flash器件测试成本效益最大化
随着移动智能设备的普及，人人都变成了数据源，在线数据呈现爆发式增长，数据存储需求越来越大，预计到2018年Flash存储器测试系统的全球市场将达到1亿4800万美元。如何经济高效地测试非易失性存储器件？这就需要一个多功能且灵活的测试平台来确保用户的投资回报率，并降低设备投资风险。爱德万测试的T5830测试系统同时具备支持前道晶圆测试以及后道封装测试的能力，非常适合测试采用标准串行外围接口协议(SPI)的NOR和NAND Flash器件，以及那些管脚数较少的Flash器件诸如智能卡、SIM、EEPROMs、内嵌式Flash等产品。

图2：T5830存储器测试系统

爱德万测试(中国)管理有限公司VP夏克金博士介绍，"T5830测试模块内置的可编程电源通道（PPS）的可扩展架构，为不同管脚数量的芯片提供了灵活经济的硬件资源分配组合，还沿用了爱德万测试创新的Tester-per-Site的硬件设计理念，使每个Test site可以独立地进行测试程序的操作减少了并行测试的时间，降低了综合测试成本。T5830测试系统的测试频率为400MHz，数据传输速率为800Mbps。假设当一个DUT配置4个数字测试通道时，T5830的并行测试能力最大可以增加到2304个DUT同测。"

Wave Scale测试板卡：让射频半导体产品测试更加高效
传统的射频测试解决方案一直沿用多芯片同测的方式，比如四或八芯片同测，但是一次仅在芯片内对一种射频标准进行测试，测试过程复杂，工作效率低下。怎样进行多路测试，尽量简化测试流程？ 爱德万测试在V93000平台上推出了 Wave Scale系列测试板卡，可以提高射频及混合信号集成电路测试时的并行性及产能。

夏克金博士指出，"Wave Scale RF及相应的Wave Scale MX测试板卡能在一个射频芯片内同时对多种标准或者多个路径进行测试，通过高效的芯片内并行及高同测效率的多芯片并行，能显著地降低这些复杂射频器件的测试成本。"

图3：Wave Scale MX测试板卡

图4：大量的并行测试可以显著降低测试时间

Wave Scale RF板卡在每块板上拥有四个独立的射频子系统并带有独立的信号激励及测量能力，能够在同一时间对LTE、GPS、蓝WLAN器件进行测试。每个子系统带有八个单独的端口，能够同时将射频信号扇出到最多四个独立的测量仪器。这能使每个射频子系统能够支持多达八个芯片运行RX （接收器) 和TX （发射器)的测试 ，每块板卡支持多达32个芯片同时测试。Wave Scale RF板卡的32个射频端口都能支持最高至6GHz的频率。凭借200MHz带宽及包括提供内部回路，嵌入式校准等在内的其他各种特征，其能很好地支持包括未来5G半导体器件在内的一系列广泛的应用。

加强中国区研发实力，更好服务客户
近两年全球半导体市场呈现下滑趋势，唯有中国市场仍然保持二位数增长，因此各大国际半导体厂商都加强了在中国的布局，以前将中国部门定位为服务职能的公司如今也将研发进行了转移。爱德万测试市场销售总经理陆乐介绍，"我们在继德国、日本、美国之后，又在中国上海设置了研发中心，负责部分测试软件开发。我们对中国团队的定位不只是做服务，目前设计部分也在向中国转移，因为中国市场非常有前景，我们要尽可能满足中国客户的需求。"

"我们每年都会拿出营收的20%用于研发，因此每年都会向市场推出新的产品。"陆乐补充。

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