TEM材料分析技术先行一步，宜特5nm技术果然给力

随半导体产业朝更先进制程发展之际，宜特材料分析(MA)检测技术再突破。

随半导体产业朝更先进制程发展之际，宜特(iST)材料分析(Material Analysis，MA)检测技术再突破。宜特宣布，TEM材料分析通过国际级客户肯定，验证技术达5纳米制程。

宜特近期不仅协助多间客户在先进制程产品上完成TEM分析与验证，其技术能量更深获IEEE半导体元件故障分析领域权威组织IPFA(International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits，积体电路失效分析论坛)肯定，连续数年通过大会审核，于期间发表最新研究成果。

宜特观察发现，近年来，企业为了打造效能更高、功耗更低、体积更小的半导体元件以满足现今智能产品之需求，各大厂在先进制程开发的脚步越来越快，已从前年20纳米、去年14纳米制程，陆续在今年往10奈米、7纳米制程进行量产准备；而多家半导体大厂，今年更已朝5纳米制程进行研发蓝图，因此带动整个供应链的材料分析需求。