双剑合璧，矢量网络分析仪+频谱分析功能

是德科技公司日前宣布推出新的功能选件，旨在为PNA和 PNA-X系列微波矢量网络分析仪（VNA）添加高性能频谱分析仪功能。作为业界首创，此功能选件可以将测试速度加快10到500倍。VNA综合此功能后，即可在表征卫星设备、国防电子器件和商用无线器件中的S参数、压缩和失真之余，还执行高速杂散测量，从而简化系统连接，节省测量时间。

工程师在执行杂散测量时通常需要耗费大量时间，同时还面临着测试时间与测试范围之间的折中。利用新的高性能频谱分析仪功能，Keysight PNA可以在宽广的频率范围内执行快速杂散搜索，测试吞吐量相比现有测量方法提升500倍。测量结果可以与当前最快、最复杂的独立频谱或信号分析仪相提并论。

VNA还能够在所有测试端口上同时实施频谱测量。这种独一无二、业界领先的功能使分析仪只需连接一次便可表征混频器、转换器、放大器、模块或子系统，从而缩短设计周期。例如LO、RF和IF馈通测量；谐波测量；互调产物测量；以及其他高阶混频产物测量。

夹具中和晶圆上测量也可以从VNA校准和去嵌入（校正接收机响应误差，消除电缆和夹具影响）中受益――测试精度将会明显改善，从而实现更小的测试容限和更苛刻的器件技术指标。

是德科技元器件测试事业部PNA市场经理Steven Scheppelmann表示："在同一台仪器中执行高性能频谱和网络测量，可以为您提供无与伦比的洞察力来了解被测器件的特性。此创新还可以取代开关矩阵和独立的频谱分析仪，进而满足日益重要的、减小元器件表征测试系统体积的需求。"

每一台Keysight VNA都充分体现了是德科技在线性和非线性器件表征方面的专业水平。当您在研发实验室中和生产线上执行设计和测量时，PNA系列的卓越性能能够为您带来前所未有的帮助。