NI发布《2012年自动化测试趋势展望》

2012年5月－ 美国国家仪器公司（National Instruments, 简称 NI）近日发布《2012年自动化测试趋势展望》,其中分享了公司对最新测试测量技术和方法的研究发现。 该趋势报告详细介绍了影响众多行业的发展趋势，包括消费电子产品、汽车、半导体，航空航天与国防、医疗设备以及通讯。 工程师和管理人员可从中了解并采用优化测试组织的最新策略和最佳方式。

2012年趋势展望报告由5个类别组成： 商业战略、架构、计算、软件和I/O，并探讨了以下主要趋势：

测试组织的优化: 各个组织将测试工程视为战略资产，以在竞争中获得优势。 设计流程中的测量与仿真：将复杂模型与真实测量结合，提高产品质量，缩短开发时间。 PCI Express外部接口: 高速、低延迟PC内部总线拥有新的系统拓扑结构，并增强了外部接口功能。 移动设备的迅速普及: "智能手机和平板电脑的普及"正改变着测试系统控制和监测的方式。 便携的测量算法：全新工具可实现一次开发测量IP，即可部署至多个不同的处理单元。

《2012年自动化测试趋势展望》的内容源于学术界和工业界的研究、用户论坛与调查、商业智能化和用户顾问委员会的反馈意见。 该报告以数据为基础，详细介绍了下一代技术趋势，以此应对测试测量领域的商业和技术挑战。

《自动化测试趋势展望》由NI测试行业领导委员会编写，NI创立该委员会，旨在促进全球不同行业内数千家客户分享反馈各自的最佳测试测量方法。 NI测试行业领导委员会以促进测试行业领导人之间的交流为目标，鼓励他们提出商业和技术的独到见解。 领导委员会的活动内容包括领导人会议、同行互通网络和技术交流。

请访问 ni.com/ato/zhs，详细阅读2012年《自动化测试趋势展望》。

关于NI

自1976年以来，美国国家仪器，简称NI一直致力于为工程师和科学家提供各种工具来提高效率、加速创新和探索。 NI的图形化系统设计方法为工程界提供了集成式的软硬件平台,有助于加速测量和控制系统的开发。 长期以来，NI一直期望并努力通过自身的技术来改善社会的发展，确保客户、员工、供应商及股东获得成功。

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