OKI选用惠锐捷测试解决方案测试其高集成度无线通信芯片

半导体测试公司惠瑞捷日前宣布，日冲电气工业株式会社OKI已选用惠瑞捷Port Scale射频测试解决方案以测试其高集成度无线通信芯片。OKI的芯片目前已被消费电子制造商广泛地应用于各种终端产品的制造当中，其中包括：机顶盒，手机，掌上电脑和其它无线产品等等。OKI亦利用其在封装技术方面的优势向其它制造商提供封装与测试服务，而Port Scale射频测试方案将为OKI的测试服务业务进一步提供更多价值。惠瑞捷Port Scale射频测试解决方案凭借其独到的性能、具有优势的测试成本、v93000平台的可靠性和可扩展性以及遍布全球的高质量应用测试服务支持最终获得OKI的青睐，在众多候选方案中脱颖而出。

OKI是第一批采用惠瑞捷Port Scale射频测试解决方案的公司之一，惠瑞捷的Port Scale射频测试解决方案的推出符合市场迅速增长的需求。目前十大射频半导体供应商中有八家正以Port Scale射频方案开发并超过25种各类产品，准备在未来数月内投入量产。这些芯片包括含当今最具有挑战性的3G和4G技术，如UWB和WiMAX技术，蓝牙，GPS导航以及ZigBee等。

"为了继续向我们的客户提供最佳质量的芯片以帮助他们满足当今复杂高速无线通信的应用需求，我们需要一个可靠性高，测试成本更低且能有效加快量产化速度的测试解决方案。" OKI株式会社ATP制造部门总经理Katsumi Onaru先生表示："Port Scale 射频测试解决方案很好地为满足了我们对于性能，成本和支持的要求，令我们在这些领域都能够从容应付挑战。v93000平台固有的灵活性意味着它同样能满足我们的客户对于未来下一代设备的需求"。

"凭借Port Scale射频测试解决方案，惠瑞捷已经率先带来了业内第一套整合探头的多端口测试方案，以此为高集成度射频设备提供高性价比的测试。"。惠瑞捷半导体科技公司业务与服务支持副总裁Pascal Ronde指出："我们很高兴OKI选用了已被许多其它公司采用并一致认可的Port Scale 射频测试解决方案，在这些公司的共同推动之下，Port Scale将能迅速成为测试包括最新的3G和4G技术在内的全范围复杂射频系统芯片和射频系统级封装的新标准。"

关于惠瑞捷Port Scale 射频测试解决方案

基于v93000 soc测试平台的Port Scale射频测试解决方案提供了经济，有效且可靠的射频测量能力，这一全能型测量平台能够对于内含整合射频、混合信号、数字、电源管理、以及嵌入式或堆叠式内存的各类最新的高集成度芯片实施测量。而Port Scale射频解决方案是目前唯一能够满足3G，4G以及高集成度射频设备对于高容量、多点并行测试要求的方案，同时也是这些产品进行量产可行性测试必不可少的平台。

解决方案包括：

--具有领先的高效率的多点并行测试能力的高产量射频测量仪器

--业已证实的性能，可重复性和稳定性，所有这些均能改善芯片成品率和测试质量

--可扩展，并行测试