降低测试成本　产业组织试图订定ATE外围接口标准

半导体测试协会(Semiconductor Test Consortium，STC)宣称，有关测试设备(ATE|0">ATE)外围接口标准开发的行动已取得重大进展。这被称为STIX (Semiconductor Test Interface eXtensions)的行动，据说可解决ATE不断增加的成本和效率挑战。

STIX行动同时包含开放式硬件和软件规格。该行动的关键，在于不断成立由新技术与产业驱动之工作小组，以解决相关的外围领域问题。这些策略性工作小组旨在收集更多有关测试技术的意见。新成立的工作小组将与STC已经开始针对硬件扩展坞(hardware docking)、探针卡、标准测试接口语言(STIL)和产学合作项目进行研究的工作小组一起努力。

不过对于STC而言，还有一场硬仗要打。多年来，ATE公司已经单独开发了各种专有测试装置，但是现有模式近来出现总测试成本暴增的问题。为因应以上问题，包括Advantest、Intel等公司在2002年发起成立了STC；该组织的目标是为ATE领域建立一个"开放性架构"，这将可实现测试装置的"即插即用"第三方模块的开发。在做这些工作的同时，STC希望降低不断上涨的IC测试成本。

STC也试图能取得来自第三方模块制造商与各竞争ATE厂商的技术支持。事实上一开始，该组织希望ATE厂商能以其技术架构为基础，生产具备兼容性的测试设备产品；不过看来现实发展还是跟STC的预期相去甚远。