爱德万推出最新多晶片封装记忆体测试系统

半导体测试机台设备厂爱德万测试(Advantest)公司，新推出为支援多晶片封装（MCP）所研发最新的高速、高产量记忆体测试系统T5781，为密集型内存产品的应用上，提供快速、一贯制程开发所需的解决方案和高量产测试。 <script src="/ASNew/Include/A_Service.asp?AS_PID=10" type="text/javascript"></script>

T5781为未来单一封装中，结合多种记忆体(含NAND|0">NAND、NOR及SDRAM|0">SDRAM)的MCP 元件，最高测试速度可达266Mhz/533Mbps。T5781ES可提供研发单位验证元件及发展新的测试程式，将测试DDR和Flash 功能和性能整合在单一平台。

增加功能的手机和行动设备，其应用处理器促使先进的MCP需求日益增加，包括更先进的功能，如高清晰度摄影机和内置的音乐播放器，是驱使记忆体元件的存储设备及扩充能力、功能和速度发展的主要因素。手机更清薄短小、功能更多，使记忆体元件不断小型化，包含多个不同的记忆体MCP元件的单一封装更被广为运用。　

以往，MCP测试需要为特定类型的记忆元件使用特定测试系统，如针对部分NAND的内存元件，必须使用专门测试NAND的系统进行测试，分步测试横跨数个插件，使测试处理过程十分昂贵。现在DDR-DRAM频宽线路流量被纳入MCP，运作速度超过100 Mhz、可测试超高速元件的MCP，和充分单片Flash和DRAM的功能测试系统需求趋旺，爱德万的T5781和T5781ES可降低测试成本，满足技术需求。

T5781记忆测验系统对高速性能的MCP测试，全球名列前茅，非常适合测试下一代产品，可在单一制程中有效率测试多种产品，爱德万设计了适合所有类型记忆体的单一测试系统，Tester-per-site 架构效率很高，每个测试site包括独立的电源和功能，每颗元件能被独立控制和测试，大幅减少测试时间。T5781及T5781ES的并行测试能力各为512 devices、32devices 以上；最高测试速度均为266 Mhz/533Mbps，测试头各为1 station。