安捷伦科技推出Medalist i3070在线测试系统
新系统采用高级算法，与传统的安捷伦Medalist 3070系统相比，把模拟测试吞吐量提高了50%。简单的图形用户界面采用专门设计，为快速发展的大批量制造环境中的操作人员提供了最大的简便易用性。
安捷伦Medalist i3070还包括业内率先提供的另一种技术：VTEP v2.0非向量测试技术，它采用新的NPM测量技术，主要用来检测连接器电源针脚和接地针脚上的缺陷。安捷伦今天还推出了VTEP v2.0技术，如需与VTEP v2.0有关的更多信息，请参阅：www.agilent.com/about/newsroom/presrel/2007/20feb-em07015.html。
电源针脚和接地针脚一直被视为非向量测试所无法覆盖的，因为电源针脚或接地针脚在设计上短路在一起，市场上目前提供的任何非向量测试解决方案几乎都检测不到此类针脚开路。安捷伦VTEP v2.0为克服这种测试局限性提供了创新解决方案。
"Medalist i3070使得广大客户能够更迅速地开发和调试程序。"安捷伦测量系统分部ICT市场经理NK Chari说，"在VTEP v2.0中，我们还极大地提高了测试速度，实现了前所未有的覆盖率。我们提供了最灵活和业内领先的在线测试平台，帮助客户缩短产品开发周期，降低成本，保护投资。"
通过简单的软件升级，现有Medalist ICT系统可以同时实现Medalist i3070和VTEP v2.0新功能。此外，为进一步保护现有安捷伦Medalist 3070和i5000用户的投资，新推出的Medalist i3070可以有效兼容传统安捷伦ICT系统，因此最终用户可以轻松地在不同系统中实现相同配置。
产品照片请访问：www.agilent.com/find/i3070_images。
关于安捷伦Medalist ICT系列
安捷伦Medalist在线测试(ICT)系列提供了业内领先的ICT灵活性，解决了电子器件制造商面临的实际问题。该系列采用可扩充的结构，分成单模块、两模块和四模块配置，解决了解决了生产线上所能面临的最大的资源分配的问题。兼容的设计和经过验证的ICT技术实现了业内无可比拟的测试移植能力、稳定性和可重复性，可以全面自由地在不同系统、生产线和站点之间的测试转移，而不会降低测量准确性。
如需更多信息，请访问安捷伦网站：www.agilent.com/see/ict。
安捷伦科技公司（NYSE：A）是全球领先的测量公司，同时也是通信、电子、材料和生命科学等领域的技术领导者。公司拥有19,000名员工，遍及全球110多个国家，为客户提供卓越服务,曾被评为"世界最佳供应商"。在2006财政年度，安捷伦的净收入达到50亿美元。如欲了解关于安捷伦的详细信息，请访问http://www.agilent.com。