爱得万推出T5593内存测试系统

测试DDR2-SDRAM 、DDR-SRAM等高速芯片的高产量测试系统

采用了SBC（接口板更换）HiFix和高速校正技术的支持128同测的T5593测试系统大大消减了测试成本。此外，配合本公司使用热补偿技术的动态机械手，可以进一步提高产量。这种结合提供了很好的大规模生产解决方案。

支持DDR2 -SDRAM的128同测
T5593测试系统能给器件接口提供最高的精度，即使是在系统支持的DDR2 -SDRAM128同测极限工作状态下。和T5586测试系统一样，T5593也提供DQS Jitter Solution扩展功能，集成于测试头的超高速器件测试(>500MHz)所必需的高速时钟管脚使得高同测数和高速高精度器件测试在生产测试中成为可能。

提供高精度器件接口
新一代器件的多管脚化、高速化，促进了高精度化、多管脚对应、高组配品质的新的器件测试接口的发展。一项新的高密度组配技术也因此产生了。集成于接口板的新的高精度同轴连接器的采用更进一步提高了传输速度，并降低了产品更换的HiFix成本和设计成本。

更短的高精度校正执行时间
高精度的时间校正是器件测试所必需的，而采用现有的校正技术耗时而成本又高。T5593测试系统通过减少必要制具、缩短获取时间（比我们的常规产品快十倍）、减少获取条件实现了新的校正技术。这些新特性减短了TAT并提高了大规模生产的可实行性。