微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 应用设计 > 消费类电子 > USB3.0 的物理层发送端测试方案

USB3.0 的物理层发送端测试方案

时间:06-22 来源:美国力科公司深圳代表处张昌骏 点击:

USB 简介

USB(Universal Serial Bus)即通用串行总线,用于把键盘、鼠标、打印机、扫描仪、数码相机、MP3、U盘等外围设备连接到计算机,它使计算机与周边设备的接口标准化,从 2000年以后,支持 USB2.0 版本的计算机和设备已被广泛使用,USB2.0 包括了三种速率:高速480Mbps、全速 12Mbps、低速 1.5Mbps。目前除了键盘和鼠标为低速设备外,大多数设备都是速率达 480M 的高速设备。

尽管 USB2.0的速度已经相当快,对于目前高清视频和动辄 GByte 的数据传输还是有些慢,在 2008 年 11 月,HP、Intel、微软、NEC、ST-NXP、TI 联合起来正式发布了USB3.0的 V1.0 规范。USB3.0 又称为 Super Speed USB,比特率高达 5Gbps,相比目前 USB2.0 的480Mbps 的速率,提高了 10 倍以上,引用 Intel专家 Jeff Ravencraft 的话:"以 25GB 的文件传输为例,USB2.0 需要 13.9 分钟,而3.0 只需 70秒左右。"25GB,正好是单面单层蓝光光盘的容量。USB3.0 预计将在 2010 年逐渐在计算机和消费电子产品上使用。

力科于 2009 年 4 月发布了 USB3.0 的物理层测试解决方案,能提供端到端的互操作测试和兼容性测试,包括了 Transmitter 测试、Receiver 测试、TDR 测试。此外,力科还提供了业界领先的 USB3.0 协议层测试方案。

点击此处下载全文 USB3.0+的物理层发送端测试方案.pdf

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top