雷迪埃推出射频测试探针

作为在创新互连解决方案领域设计，开发与制造的全球领导者，雷迪埃于2014年7月开始生产射频测试探针。测试探针被广泛应用于电子工业的批量生产过程中。然而，很多时候，射频连接器是被单个测试的，测试效率也因此大大地被降低了。

随着雷迪埃射频测试探针的诞生，对射频产品的测试将不再会延缓生产时间。雷迪埃测试探针的创新设计，使得射频飞行试验得以实施，并确保生产线能最佳速度运转。雷迪埃的这一创新设计理念不但提高了测试速度，增强了应用，而且极大地提高了故障检出率。

这些探针的性能非常适用于将测试设备直接连接到被测设备（DUT）。这已经是当今自动化设备制造业的发展趋势: 通过广泛使用飞行射频探针，提高生产效率，以成就最大的生产量。

特别设计的带有内部和外部导体的弹簧接触探针，能够适应各种射频设备的特别要求。这种设计可以使信号以最小的损失在一个较宽的频带中进行传送。

雷迪埃射频测试探针的范围包括连接测试SMP（公）、SMP-MAX（公）、SMA（母）、MMBX（母）以及SMB（公）。同心设计并加载弹簧的内部和外部导体，保护了同轴导体免受外部干扰。内外导体间的能量以类似的方式被转换成波导技术。同轴设计的概念使交直流可以互相转移。

雷迪埃射频测试探针在一些领域的应用是非常适合的，如自动PCB测试和生产平台测试。其主要特性和优势包括：频率高、寿命长和多功能性。