微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 微波射频 > 测试测量 > TD-LTE智能天线自动测试系统解决方案

TD-LTE智能天线自动测试系统解决方案

时间:02-02 来源:mwrf 点击:

基于上海创远仪器技术股份有限公司研制的TM系列高性能射频开关矩阵和两端口矢量网络分析仪实现TD-LTE9端口智能多频天线S参数自动测试,包括端口驻波、相邻端口隔离度、校准口到各天线单元端口的幅相一致性等指标的测试。

TD-LTE智能天线自动测试系统解决方案

· 一次连接,自动完成天线S参数指标的测试。
· 减轻测试劳动强度,减少测试时间,提高生产效率。
· TM内置匹配负载,空闲端口自动连接到匹配负载,保证测试结果的准确性和一致性。
· 测试结果自动保存,根据定制模版生产测试报表。
· 电子校准件校准,大大减少校准时间。

传统人工测试

· 测量9端口单极化TD-LTE天线的S参数,需要15次连接才能完成。
· 测量9端口单极化TD-LTE天线的S参数,需要35次连接才能完成。
· 工作量相当大,操作繁琐耗时,容易出现误操作,测试准确性难以保证。
· 选用9端口以上网络分析仪,仪器昂贵,生产成本难将接受。

TD-LTE智能天线自动测试系统解决方案

TD-LTE智能天线自动测试系统解决方案

TM系列高性能射频开关矩阵简介

上海创远仪器技术股份有限公司研制的TM系列高性能射频开关矩阵,包括2x8、2x9、2x10、2x12等多种规格,实现全交叉连接,端口驻波小于1.2,端口隔离度高达85dB,内置匹配负载,空闲端口自动连接到匹配负载,保证测试结果的准确性和一致性。

TD-LTE智能天线自动测试系统解决方案

来源:上海创远仪器技术股份有限公司

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top