多模扫频仪在LTE网络规划和优化中的运用

的带宽测量移动网络系统内可能规划的，所有频率的中心频点功率值，主要应用于传播模型校正测试和频率规划工作，可以通过评估各频率中心频点的能量值，核查测试区域内频率使用情况[3]。应用模式如下图所示：

3.2常规优化

进入网络建设的初期优化阶段，优化的首要对象就是覆盖，同时还包括干扰和邻区，这三大类问题贯穿于长期的网络优化工作中。对于优化阶段的数据测量，运用的是扫频仪最主要的一种测试方式，Top N测试模式。

Top N测试模式：通过解析网络制式内正常服务的小区的信息，分析网络无线环境中的覆盖、邻区和干扰问题，并通过数据统计和条件设定，给出问题小区的信息和问题路段的位置，以及问题占比、轨迹图、报表等内容，典型应用如ASPS的网络结构指数分析，现网中邻区关系分析和系统间的互操作问题，GSM的同邻频分析、TD-SCDMA的时隙干扰分析、TD-LTE的同模3分析等等。

覆盖分析

建网初期优化，覆盖类问题无疑是重中之重。同频组网的TD-LTE对覆盖要求非常严格，重叠覆盖度一旦过高，将直接引起严重的同频干扰和同模3干扰，严重影响RS-CINR，导致业务速率的急剧下降。如何在加大建站力度、扩大覆盖范围的同时，保证合理的网络结构就成为了摆在网优工程师面前的一大挑战。

在解决重叠覆盖这个问题上，使用扫频仪进行工程优化，是依靠扫频仪优异的同频解析能力（＞15dB），对覆盖道路进行盲扫，找出符合重叠覆盖定义门限条件的同频小区，分析和上报各小区的重叠覆盖度，同时还能上报引起重叠覆盖的冗余小区，为开展覆盖控制优化提供大量数据，方便网优工程师查找问题小区。

以下图为例，重叠覆盖度场强差门限设定为6dB。在初次路测时，红色区域内采样点重叠覆盖度为3，即符合与第一强小区场强差6dB范围内的小区数为3（含第一强）。

通过分析不难看出，该区域采样点内第二、第三强小区与第一强信号强度十分接近，在RSRP良好的情况下，由于重叠覆盖度高而导致CINR受影响，参考信号质量并非十分良好。如下图，通过软件自动生成的重叠覆盖度报告和冗余覆盖度报告，找出对重叠覆盖造成影响较大的小区，作为此次覆盖优化的重点。

根据冗余覆盖度报告找出问题小区，适当调整其方位角下倾角，有效控制这些问题小区的覆盖距离。同时，根据重叠覆盖度报告适当加强受影响的第一强小区的覆盖强度。优化后覆盖效果如下图：

经优化后，加强了红圈区域内第一强小区的覆盖强度，同时控制了第二、第三强小区的覆盖范围，红圈区域内重叠覆盖度明显下降。如当前采样点重叠覆盖度为1，表明该区与第一强小区场强差6dB范围内的小区数由3下降为1（含第一强），这说明此时已无小区与第一强小区场强差在6dB内，CINR也从7.65dB上升到15.48dB 。

除了解决重叠覆盖度以外，依靠扫频仪独立于网络的特点，高精度（RSRP检测精度-128dBm）的测量方式，可以检测出现网中存在的弱覆盖、越区覆盖、覆盖方向不符等覆盖问题，直接定位问题小区，生成各类问题核查图层，并将其相关的无线参数进行上报，方便网优工程师进行调整[4]。

以最常见的越区覆盖为例，通过设定门限的判定，软件自动生成越区覆盖核查图，如下图。红色采样点即为根据门限判定的越区覆盖采样点，通过连线将导致越区覆盖的小区相连，帮助网优工程师直接定位待优化的问题小区。

与越区覆盖分析类似，扫频分析软件还可通过扫频数据，准确分析并定位弱覆盖、覆盖方向不符、导频污染和室分信号外泄等覆盖类常见问题，为提高优化工作效率提供有力的支持。

干扰核查

TD-LTE系统内常见干扰主要有同频干扰、同模3干扰。在LTE网络中，由于小区信号不能通过合并其他同频小区信号获得增益来消除同频间的干扰，由同频引起的干扰已经成为TD-LTE系统内影响最大的干扰因素，解决办法就是上述通过合理的覆盖控制，减少小区间的重叠覆盖。

再来看同模3干扰，它是LTE网络制式下特有的一种干扰方式。LTE网络制式下，用户入网首先需要进行同步，进而通过参考信号来评估信道质量，进行相关资源的分配，如果主同步信道携带小区的ID（0，1，2）相同，就会造成PSS读取失败、用户接入困难的问题，后续的信道评估也会造成偏差，这就是现网规划及优化中经常提及的同模3干扰。

扫频仪依靠强于终端的同频解析能力（＞15dB），检测同频解析能力范围内的所有小区，分析和对比各小区的强度，并根据同模3小区判定门限，直接定位出所有符合条件的同模3小区，如下图所示：

在此案例中，可根据PCI规划原则，兼顾其与周围其他小区的同模情况，适当修改PCI即可避免此同模3干扰。如修改PCI