安捷伦推出IC-CAP WaferPro软件来自动执行复杂的元件模拟应用

安捷伦科技（Agilent Technologies Inc.）今天发表了集成电路特性描述与分析程式(IC-CAP) Wafer Professional (WaferPro) 软件。该款新软件为半导体元件的模拟应用，提供一个多元件（multi-site）、多晶圆的自动化直流与射频测量解决方案。

WaferPro可以让使用者控制半自动与全自动探针台。因支援最新的切换矩阵和热夹头解决方案，WaferPro可在一个温度范围内自动执行局部（spot）和扫描（swept）测量。 WaferPro直接控制安捷伦4070和4080参数测试系统的能力，可大幅提升测量的速度。

使用WaferPro，每当温度改变就会自动执行晶圆对准，如此可省去工程师监测测量的麻烦。测试计画可以自动在不同的测量站，使用不同的硬体执行，以提高实验室设备的利用率。以复杂结构为基础的WaferPro，也可执行高效率的资料分析与处理，并为之后复杂的模拟作业提供良好的基础。

台湾安捷伦科技电子测量事业群总经理张志铭表示："元件模拟的复杂度不断提高，连带增加了萃取与验证所需的测量。统计模拟对晶圆代工厂来说是一大挑战，但也是负责处理较小电晶体和较复杂应用的设计师必须优先考虑的事。此外，不只是制程开发与制造环境，就连元件模拟实验室也愈来愈常采用安捷伦的参数测试系统。WaferPro是为了解决这些挑战而率先推出的新产品。"