NI 5665与传统仪器对比演示-设置与细节

TOI测试

在此测试中，我们将生成中心频率相差1MHz的两个单频信号。如果两个信号源之间没有足够的间隔，信号源所产生的互调失真会掩盖被测接收机的失真。每个信号源输出口的AtlanTec（ACC - 20010系列）隔离器、Mini -Circuits<ZFSC-2-10G+( 10 GHz) 和 ZFSC-2-11-s (1GHZ)>功率分配器被用于信号结合，确保信号源失真低于被测失真的接收器水平。上下TOI都会被计算在内（只有上部TOI在视频中显示）。计算的上下TOI的方法如下。

IP3 Lower = P1 + (P2- IMD lower)/2

IP3 Upper = P2 + (P1 - IMD Upper)/2

以下设置对于两个仪器都适用。

    ○ 0 dB衰减

    ○ 01 kHz RBW

    ○ 无平均值

图7. NI PXIe-5665和Agilent PXA的三阶信号成分。NI PXIe-5665的三阶信号成分的绝对强度接近-95 dBm。

如果使用更多的衰减，那么你可以获得更多的TOI测量结果。

列表模式测试

在列表模式测试中，生成了一个1GHz的信号，并使用Agilent PXA和NI PXIe-5665进行读取。随机选择2、 5、10 或14 GHz的谐波，因为两个仪器的测试结果以3.6GHz频点为界都会发生变化，而我们希望能正确地测量跳跃到更高次的谐波所需的时间。虽然这并不是一个标准的测试，但是它最好地展示了两个仪器在列表模式测试中的灵活性。

注意：对两个仪器均使用列表模式。

总时间由列表模式中的扫描时间+每个频率跳跃峰值搜索时间+数据返回至两台仪器的主机所需时间组成。

图8.在NI PXIe-5665和Agilent PXA上使用列表模式。相比大多数列表模式测试，NI 5665 要快1.5-2倍。

图9. 远程使用Agilent PXA列表模式，在上述条件下需要700ms的时间。

注意：Agilent PXA针对某些谐波上进行了优化。NI 5665 则是在所有的列表模式测试中速度快1.7-2倍。

EVM测量

在EVM测试中，使用NI PXIe-5673矢量信号发生器生成一个LTE信号。两个仪器均使用如下设置：     

   ○ RBW = 30 kHz

   ○ 10 dB 衰减

   ○ 10 次平均

   ○ 关闭自动峰值检测

图 10. 使用Agilent PXA 和 NI PXIe-5665进行LTE EVM 测试。

使用可编程的FPGA进行在线处理

图 11. 将信号处理移至FPGA上进行可以节省时间。

NI FlexRIO非常灵活，可以作为一个协处理器。在这一演示的设置中，所有来自PXIe-5665的数据都是在FPGA上进行处理；而在之前的演示设置中，数据是在嵌入式处理器中进行处理。这一特性的应用非常广泛，例如硬件处理的算法、协议实现以及实时激励-响应等应用。

测试时间比较（包含设置时间）

前面所有的测试演示都只针对单次测量的时间。而在本项测试中，除了测量时间以外，还将考虑设置时间。这在包含多种测试标准的自动化测试（例如功率放大器测试）之中很有必要。

图 12. 若考虑设置时间，NI 5665的速度要快20倍。

总结

对于一个典型的测试设置来说，相对于使用Agilent PXA，NI PXIe-5665能够提供相同或者更好的性能，而且在大多数测试中要快14-15倍。同时，NI PXIe-5665的成本要比传统台式仪器小得多。在下表中，对NI 5665以及相对应的Agilent PXA价格进行了比较。

在自动化测试系统中，PXI机箱和MXI控制器的花费通常被系统中的所有仪器均摊。例如，如果一个测试系统中包含两个NI PXIe-5665矢量信号分析仪，并插在一个PXIe机箱中，则机箱和控制器的费用只会发生一次，因此总的投入要少于2 x $58,597。然而，如果一个测试系统中包含两套PXA，则投入为2 x $87,745。

注意：对于自动化测试应用来说，Agilent PXA和NI PXIe-5665在PC和所选编程语言（如LabVIEW、CVI、Visual Studio等）方面的投