基于ARM的嵌入式测试系统

申请理由：项目开发用

项目描述：针对小型化测试系统开发一套嵌入式测试设备
需求：实现多通道电压电流测量，波形采集分析，LCR参数测量，IO端口控制，程控电压输出等。
方案： 基于嵌入式的控制主板通过系统总线连接各个板卡，实现相应的参数测试和控制，其中子板卡包括DMM测量卡、数据采集卡、DIO卡，继电器矩阵卡，可编程电阻卡，可编程电源卡，LCR测量卡等，用户通过嵌入式主机编写测试项完成各项测试指标。
该电子测试系统主要面向小型化的测试设备，集成化高，有效的降低了整个系统的成本。由于各个功能板卡独立，对于后期的维修更换带来方便，目前市场上类似的测试设备价格都比较高，例如NI PXI机箱，泛华的PXI机箱，我们开发的这套测试系统可以有效的减少成本。