微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 硬件电路设计 > TI模拟硬件电路设计 > 学模拟+《运算放大器噪声优化手册》读书笔记 NO.6

学模拟+《运算放大器噪声优化手册》读书笔记 NO.6

时间:10-02 整理:3721RD 点击:


第六章讲的是运放内部的噪声,介绍了一些基本的经验原则,使板级和系统级设计者深入接触运放集成电路设计。

最差噪声分析与设计中的5条经验原则:

1、 带宽电压噪声对于半导体工艺变化非常不敏感。

2、 运放噪声随着温度增加而增加。

3、1/f噪声(即闪烁噪声)高度依赖于制作工艺,因为1/飞噪声与制造工艺中的结晶结构缺陷有关

4、 板级和系统设计者们需要认识到运放电源静态电流(Iq)和宽带噪声成反比。

5、场效应管(FET)运放天生具有低电流噪声。这导致了双极型和FET晶体管噪声的区别。

文中通过对双极型和FET晶体管的噪声模型进行了深入的讲解,让我们知其然,知其所以然。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top