SAR ADC 非线性的测试问题

最近在测试一个10bit的SAR结构ADC（电源电压3.3V），采用14bit精度的信号发生器产生模拟输出，采用线性和SIN波两种方式测试，DNL均在+/-0.5LSB，INL的结果有如下两种情况；

采用线性的波形，测试结果有偶然性，有时INL很好（+/-0.5LSB），有时很差（+/-3LSB），INL很差时，就是在9mV左右地方Dout开始从0变为1，在3.291V左右的地方Dout已经为1023，中间没有失码，即有一定的gain error。

采用SIN的波形，INL很差（+/-3LSB），主要是在0和1023附近，中间的地方INL相对较小。

请牛人帮我看看，这种情况是信号发生器产生模拟输出有斜率偏差的问题还是ADC 的问题?目前，我没有想到方法验证是哪个的问题?

若是信号发生器的问题，有什么解决的方法吗?

若是ADC的问题，INL产生偏差的来源可能是哪些?谢谢！

能否贴个INL的图上来

贴图没有存下来，有点类似开口向上的抛物线，中间比较平，越到两边越向上

sin测试这样啦，两头速度慢，点多，中间速度快，点少
你的意思是sin波归一化后的INL会很差?

直接用matlab程序跑的，程序没看懂，呵呵，所以，不清楚归一化对结果有什么影响?

我不知道专业叫法是不是归一化..
意思是sin波测出的INL/DNL是跟每个code的理想值对比算出来的
不确定你两头差是真的差还是算错了，如果是真的差，且你内部DAC非线性没问题的话，
检查一下ADC的基准电压范围是否和你量测的Sin波形幅度是否相同
我没有测试ADC芯片的经验，以上只是我的直观理解，如有错，请见谅
另外你测试的输入sin 频率 / 采用频率 大概多少

谢谢你的回复，呵呵
采样周期约200us，一个SIN周期约有32个点；共采了100多万个点

码密度测试

fu大牛来了 顶起

晕，把我吓到了，哈哈
其实就是灌sinwave，分析code的码密度就可以了,符合浴盆曲线
ramp信号也可以，就是会受到noise干扰，需要做平均
sin可以加带通filter，不过频率太低，估计这样的filter不好找

你看到的应该是offset，inl要把offset去除，如果关心offset,就要做calibration

呵呵
ramp做平均的意思是多测几根ramp求平均值吗?

先谢谢大牛的回复，呵呵
我在matlab程序中修改offset值，把理想的曲线调整了一下，INL就可以调整到+/-0.2LSB之内！
所以我也很困惑，调整offset，有时INL开口向上，有时INL开口向下，有时又是平的（就是结果比较好的那个情况），我也不知道到底哪个是对的，是不是offset取0得到的值才是实际的情况！
另外，如果真的是IP的问题，那么offset产生的来源应该是在哪里呢?非常感谢！

请问如果用ramp，取平均的方法和码密度相比，哪个更接近实际的情况，测试结果更准确阿?
如果用ramp采用平均的方法，会不会把noise也一起平均掉了阿，呵呵

支持！

大神，你现在搞懂了吗?你说ADC的非线性是一种表现形式还是?他和失调，增益等这些误差的区别?他是这些误差作用的结果，还是?求大神指点一下

应该是offset的影响，上下调整一下均值找最小的就可以了。

大牛，问你个问题，前仿有效位数很高，但是DNL比较差，有可能吗，我是10位SAR，只测试了1024个点

DNL是quantization noise，跟噪底有关
INL是 harmonic和spur，频谱上是某个频点上的tone
所以很高到底能高到什么程度，也高不过10bit的 enob
一般DNL差INL也差，因为都是正态分布，DNL积分起来就是INL

大牛很牛

额、但是仿真出来INL在1个LSB以内啊，但是DNL有好多-LSB和+LSB，感觉好奇怪

感謝分享！

learning ！

SAR ADC 非线性的测试问题

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