关于ADPLL测试遇到的毛刺问题
请问各位前辈们,最近在测试流回来的锁相环,是ADPLL,参考时钟约为170MHz,带宽约为5MHz,振荡频率为5.5GHz,相噪曲线在低频处有几个毛刺,都在5MHz以内,想知道是什么原因产生的呢?(在将近30kHz和不到300kHz各有一个毛刺)在15MHz处有一个很大的毛刺,也不清楚是怎么产生的。谢谢各位了!
问下小编PLL的输出端接的pad是如何处理pad存在的大电容的?
我们用反相器输出,只要反相器驱动足够大,pad电容不是问题。不过也遇到了些问题,我们单端输出,理论上应该有600mV的单端摆幅,但是只有100多mV,目前还不清楚是为什么,但是感觉应该不是pad的电容的问题
顶顶顶
你们adpll是什么结构?
你把带宽减小怎样?
你先来张频谱看看吧。
你的DCO和TDC、phase counter什么结构的?
我再去测试看看带宽和毛刺的关系
频谱见1L,我更新了~我没用TDC,就是BB-PFD结构的
电源你更干净点,或者稍微提高点或者降低点看看怎么样?
看相噪图,挺好的,-100dB@100K了。
好的,我试试看。因为需要预约测试间,比较麻烦,所以明天才能去测试,看看把可能的原因都测一下。谢啦!
前天去测试了,毛刺所在的频率和电源电压没有关系。也和带宽没有关系。纠结。
前天去测试了,毛刺所在的频率和带宽没有关系。纠结,也不知道是哪里有问题。
毛刺所在频率应该是和带宽没什么关系,但是你减小PLL带宽的时候预期看到的现象是15MHz附近毛刺的level会下降,如果毛刺的level不会下降,可以考虑可能是测试链路上引入的noise
是哦,我去看看测试结果,你提醒的有道理,万谢~!
对对,减小带宽时毛刺的level下降了。可能是什么原因呢?
你这是小数分频的,又是bang bang结构,应该会有分数杂散
结构中并没有用小数分频。BB-PFD会引入杂散么?我去了解下。谢谢!
抱歉,我看错了,你写的是输入信号频率约为170M!
BBPD是hard-nonlinearity结构,引入spur我的理解是肯定会的,按我的理解(不一定准确),BBPD只能periodicity校正相位误差,
这就必然导致VCO被周期性调制,也就是导致了spur,当然reference的noise会使这种调制被随机化(类似于sigma-delta小数分频PLL),
但我觉得不可能随机化就有那么好的效果。
你用的BBPD,增益跟输入信号的噪声有关,也就是输入信号噪声与环路带宽有关,你是如何
控制带宽的呢,使得相位裕度满足要求。是否用了环路增益校正算法?
对于BBPLL,环路稳定后如果输入信号抖动很小(一般参考时钟都会比较干净),PLL会出现limit-cycle
现象,对于这个问题,你在设计的时候有考虑过吗?
我的建议是你可以换个相噪比较差的参考时钟看看效果(当然这个时候in-band phase noise 会变差,
但可以看看spur是否有变化)
关于改变环路带宽的问题,我们做的锁相环是ADPLL,用的数字滤波器,可以通过控制字改变滤波器的参数来调整环路带宽。那个BBPLL引入的limit cycle问题我不太清楚这是什么,能稍微描述下么?我也就做了一年锁相环,学的还很浅,当初设计的时候很多问题还没有考虑清楚。
那不就是手动调节PLL带宽吗,不同应用环境都得先测试一下然后调节带宽,我觉得不是很实用(在CDR里面可能问题还没有那么明显,
如果用在wireless或者RF恐怕就不行了)
所谓limit-cycle,其实就是我说的BBPD周期性误差校正,尤其是当滤波器proportional path的delay比较大时更明显,
你可以做个行为仿真,reference是干净的,VCO不加jitter,你会发现滤波器的输出是周期性的(delay越大,现象越明显)
这样啊,我试试看。谢谢指点~!
从你相噪图上看,在30K,300K各有一个spur,10M到100M之间有间隔性spur出现,
可能是你内部VCO power上引入的可能性比较大,只能是看有没有办法调节内部供电
谢谢分享
敢问小编后来问题解决了吗?换一个input referrence以后,spur有改变位置吗?
后来因为各种很蛋疼的原因就没有再去测试。很遗憾啊,一个很好的发现问题的机会。在学校还是很不方便
你好,敢问你的BBPLL工作在小数模式下,In-Band Noise多少?整数是-100dBc/Hz,还不错。
可否请教您一下关于DLF控制DCO,一直没有搞清楚!我的DLF出来是24bits,但是模拟那边说DCO是6+7+7的结构,就是粗6+中7+细7!
现在不知道过去怎么控制,烦请指点一二