亚阈值设计求助
太多太多人(甚至某些论文)将亚阈值区和饱和区的概念弄混了。MOSFET的Vgs的大小将MOS管分为三个工作状态:weak inversion(弱反型,或者称亚阈值),moderate inversion(中间反型,部分属于亚阈值)和 strong inversion(强反型,注意名称!这个不叫饱和区)
这三个工作状态根据Vds的不同,都可存在 线性区,非线性区但未饱和,还有饱和区(不同的Vgs都存在饱和区!只是对Vds的要求不同!)
如果是要进行低功耗的设计的话,将管子置于亚阈值区是最好的,并且要饱和!亚阈值区一般的说法是Vds>4kT/q能达到饱和状态。
亚阈值设计一个非常大的问题是对于IR drop比较敏感,因为亚阈的饱和电流跟Vgs是指数相关的,而强反型只是平方相关,如果是速度饱和,那就只是线性相关。所以IR drop造成的电流波动是你的设计所需要注意的。
可以用source generation R 来达到matching.
小编你好,谢谢你的回复!我想问一个问题是,如果我做一个工作在亚阈值的电流镜,同时满足vds>4VT的话,这个时候电流镜的栅极电压都相等,电流镜的镜像电流应该不会受到IR drop现象的影响吧
你好,谢谢你的回复啊!我想问一下source generation R是什么意思啊,谢谢!
他的意思是源级加电阻,类似于双极工艺的做法。
当然会! 比如说nmos的电流镜,你的ground上面要流电流,你要保证两个NMOS的source端(即连到ground上的电流)的电压要一样,在layout上要很小心
嗯嗯,明白啦,谢谢!
100nA的电流,这得要多大的电阻才能造成影响啊
单论100nA的话,应该不会造成什么影响。
genrally的来说,IR造成的电流变化,做亚阈值设计的时候还是要考虑清楚
学习了
谢谢分享
问一下,IR DROP是什么意思。