关于ADC采样率的确定和测试

在论文里经常看到谁谁提的某某结构采样率可达多少多少，请问这个采样率是怎么确定的?
1、采样率和ENOB、噪声等有关，在设计初期会根据各种要求计算、确定各个指标大小，比如根据采样率要求确定转换器位数、放大器建立时间等，但这个采样率是否就是论文里写的采样率呢?
2、设计完成后，对ADC性能进行测量，这个时候要不要测采样率呢?如果测量，怎么测呢?
3、直觉是采样率跟inl、dnl这些指标有关，不同采样率对应不同分辨率、功耗之类的，论文中的指标是否是测量了一组数据，取出fom最好的发表出来?
求答疑。

小伙子 你看了哪篇论文了?自言自语谁能看懂啊

举个例子：“A 12b 330MS/s Pipelined-SAR ADC with PVT-Stabilized Dynamic Amplifier Achieving <1dB SNDR Variation”
这是个论文标题，ADC相关的论文不都有类似的描述么。就想知道这个“330MS/s”是怎么确定的。

330MS/s是说这个ADC的最大采样率可以达到330M次每秒如果你让这个ADC的采样率超过这个速度 比如你想处理一个200M速度的信号，你的采样率得超过400M，把这个ADC用在这样的应用中，它就没法给你保证ENOB之类的性能
高采样率意味着你能处理的信号频率变高，是衡量ADC性能的一个非常重要的指标

嗯嗯，这个我懂，采样率和ENOB有折中。问题是不同采样率对应不同ENOB，测出来的数据，如果横坐标是采样率，纵坐标是ENOB，结果将是一条折线。那我怎么跟别人讲我的转换器最大采样率是多少啊?是不是得说，在多少位精度下，最高采样率可达330MS/s?

如果你是准备学习ADC的设计那就去做好了，你不用告诉别人你的速度是多少，先去做做看，然后一切都清楚了，不要钻这个牛角尖

好的，谢谢。