高速ADC测试的一些问题

各位好，我在做一个高速Pipelined ADC的测试电路，有几个问题请教一下大家：
1.输入信号是否必须要接一个带通滤波器，我看了一些datasheet，他们都建议用带通滤波器，但我查了一些带通滤波器的芯片，都没有我需要的输入信号附近的滤波器。我要的是1MHz左右的输入信号。
2.关于本地时钟的产生：ADC的输入频率想从50MH~100MHz。推荐一下比较好的晶振咯?
3.有没有哪位大虾做过高速ADC的测试方案设计的，指点一下经验咯。

测试方案的用途是什么能否说的更加清楚一些：是Validation还是用于最终的ate?

同问！

高速ad采1M的信号貌似有点浪费

不好意思，问题没表述清楚。
是这样的，我自己设计了一个Pipelined ADC，已经送出去流片了。现在要做芯片流出来的测试准备工作。
所以想设计个测试这个芯片的方案。
1M的输入信号先测，然后再逐渐往上增加输入信号频率咯。
感谢大家的关注。继续讨论咯。

1、输入信号，用低通滤波器差不多就够了（电容电阻值，自己算算）！
2、你的采样频率50MHz~100MHz，（晶体采购要考虑），用反相器型晶体振荡电路就可以（如果集成在你的芯片内，就更好了）
3、你的测试板准备定制几层的（不同层的价格相差还是比较大的）?原器件采购?
4、你的ADC准备测那几组参数（关心你ADC的应用场合）?
5、测量仪器，目前手头有哪些（波形发生器、逻辑分析仪等）?
6、如果用ATE测试，可以少考虑很多因素；
7、高低温测试（冰柜、烤箱还是热流罩?），必须的，往往芯片死在高低温情况下，比例很高的（特别是这种高性能芯片）！

感谢6楼，学习了！