后仿正确,为何流片后,实测有误差?TSMC工艺
时间:10-02
整理:3721RD
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芯片Pin输入电压经400ohm电阻后,与芯片内的通过带隙buffer后的电压(0.3,0.25)迟滞比较。
后仿是正确比较出结果,但是为何流片后会到0.45v才能输出逻辑,迟滞也不对,差个30mV?
台积淀工艺阿。!
后仿是正确比较出结果,但是为何流片后会到0.45v才能输出逻辑,迟滞也不对,差个30mV?
台积淀工艺阿。!
是个别现象还是全部现象?有没有在工艺角偏差范围内?匹配和寄生是不是考虑到位?
仿真不是万能的。
描述还是要具体, 电流多大,400OHM会有偏差嘛,
buffer后的电压(0.3,0.25) 这个准不准[貌似基准出来 要么0.3,要么0.25,这个有50mV误差,还是大了一些]
最好有个基本结构,示意图
补充一句,只要不是高频,不要依赖后仿。一些比较器和基准,后仿不能给你增加保险系数,如何做到减少量产的工艺偏差以及温度、应力等特性才是关键
和MC simulation比较如何?
仿真与实际有差距是正常,主体要找原因。
后仿做全了吗? 是整个芯片做的 还是只是block。
是测的问题,
OK了。