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请教LDO成品芯片的环路相位裕度和增益怎么测试出来?

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
请教LDO成品芯片的环路相位裕度和增益怎么测试出来?是否需要网络分析仪?
还有系统的环路相位裕度和增益(不同负载下:拉4A电流和拉1A电流)和EA的环路相位裕度和增益相同吗!还是相差不大!?
请教各位前辈!希望不吝赐教!万分感谢!

没有人知道吗?

驱动电流很亮堂~

测这个干吗,没人成品测这个

there is no need to test it
actually, you can use the unit step respond for testing, then check it's transient overshoot and under shoot by estimating the PM...

其实主要是制定一个系列的标准!已经OK1

学习了

等待牛人指教...

用电流负载阶跃响应恢复曲线,去反推相位裕度。负载电流不同,相位裕度应该不尽相同。

应该不需要网络分析仪

阶越响应并不是很精确,
精确的还是用网络分析仪

看下建立过程不就行了吗。你在设计时应该留出端口测,要不怎么测。

您好,您说的这个反推相位裕度的方法,能说得具体些吗?

一个比较简单的办法,拿实测得到的响应曲线和不同的相位裕度情况模拟曲线比较,找出最接近的曲线响应的相位裕度。

那是你内部的事情,真正的成品没人管你内部怎样,只会看线性调整率,负载调整率,静态电流,dropout电压这些指标。

这个测的时候用不到网络分析仪

看一下

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