关于工艺库corner的疑问

同一批次同一晶元不同corner都会出现吗?出现概率如何?是不是TT的出现概率最大，成正态分布?还是几个corner出现概率差不多?还是同一批次同一晶元只会出现一种corner?
目前仿真出现PLL在SSS100度的时候输出不稳定，不知道能不能放过去流片?
期待大侠路过指点迷津！非常感谢！

同问

同问一直想知道

内容月经帖，呵呵

1. 我遇到的经验是大部份在tt，但有时有几会会到sf或fs，端看工厂的制作的稳定性如何, 至于温度就看应用了
2. sometime for yield, the wafer will not set tt corner, it needs to take care.
3. 目前仿真出现PLL在SSS100度的时候输出不稳定
==>do you know the reason?

去查WAT data啊，看是在TT/FF/SS

"目前仿真出现PLL在SSS100度的时候输出不稳定，不知道能不能放过去流片?"
如果你只是想验证功能，去流片影响不大；
如果要商业用，还是多看看吧